[发明专利]ZQ校准方法、装置、存储器芯片及存储介质

说明书

本说明书实施例公开一种ZQ校准方法、装置、存储器芯片及存储介质，所述ZQ校准方法包括：存储器包括多个接口电阻电路，接口电阻电路为离线驱动电路或终端匹配电路，在检测到ZQ校准请求时，对目标接口电阻电路的接口电阻进行ZQ校准，得到电阻校准配置信号，目标接口电阻电路为多个接口电阻电路中的一个或多个；获取目标接口电阻电路的电路使能信号以及电阻校准更新信号，并基于电路使能信号以及电阻校准更新信号，确定是否对接口电阻进行校准；若是，基于电阻校准配置信号，对接口电阻进行校准。上述方案，能够灵活的对各个接口电阻电路的接口电阻进行ZQ校准，提高了校准的灵活性。

技术领域

本说明书实施例涉及半导体器件领域，尤其涉及一种ZQ校准方法、装置、存储器芯片及存储介质。

背景技术

随着信息速度的飞速发展，在高速通信中，对于存储器能够高效可靠的在高速频率下通过数据接口对数据进行存储与读取也提出了更高的要求。存储器，如DRAM，为了接收和输出数据信息，芯片接口提供两方面的接口电路：用于向外驱动输出信号的离线驱动器(OCD，Off Chip Driver)，以及在接收数据信号时用于实现终端阻抗匹配的终端匹配电路(ODT，On-die Termination)。

现有技术中，为了避免离线驱动器的驱动电阻以及终端匹配电路的终端匹配电阻由于阻值漂移导致的信号质量发生改变，通过ZQ校准将驱动电阻以及终端匹配电阻的阻值漂移进行消除，以保证信号的可靠性。

现有技术中的ZQ校准，需要同时对所有信号端口的OCD驱动电阻以及ODT终端匹配电阻进行校准更新，这样可能会破坏信号端口当前较为稳定可靠的信号质量，从而为存储器的工作带来不稳定因素和风险。

发明内容

本说明书实施例提供及一种ZQ校准方法、装置、存储器及存储介质。

第一方面，本说明书实施例提供一种ZQ校准方法，应用于存储器中，所述存储器包括多个接口电阻电路，接口电阻电路为离线驱动电路或终端匹配电路，所述方法包括：

在检测到ZQ校准请求时，对目标接口电阻电路的接口电阻进行ZQ校准，得到电阻校准配置信号，所述目标接口电阻电路为所述多个接口电阻电路中的一个或多个；

获取所述目标接口电阻电路的电路使能信号以及电阻校准更新信号，并基于所述电路使能信号以及所述电阻校准更新信号，确定是否对所述目接口电阻进行校准；

若是，基于所述电阻校准配置信号，对所述接口电阻进行校准。

可选地，在获取所述目标接口电阻电路的电路使能信号之前，所述方法还包括：

基于所述目标接口电阻电路对应的信号端口的信号属性信息，生成所述电路使能信号。

可选地，在获取所述电路使能信号的电阻校准更新信号之前，所述方法还包括：

基于所述目标接口电阻电路的工作环境参数，生成所述电阻校准更新信号。

可选地，在获取所述目标接口电阻电路的电阻校准更新信号之后，所述方法还包括：

基于所述电阻校准更新信号，确定是否将所述接口电阻的当前校准配置值切换为所述电阻校准配置信号对应的目标校准配置值；

其中，若需要切换，将所述目标校准配置值作为最终校准配置值；若不需要切换，将所述当前校准配置值作为所述最终校准配置值。

可选地，所述基于所述电路使能信号以及所述电阻校准更新信号，确定是否对所述接口电阻进行校准，包括：

基于所述电路使能信号，确定是否需要关闭所述目标接口电阻电路；

若否，基于所述最终校准配置值，对所述接口电阻进行校准。