[发明专利]一种体积云渲染方法、装置、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011388910.3 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112200900B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 申晨 申请(专利权)人: 成都完美时空网络技术有限公司
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00;G06T15/50;G06T15/55;G06T15/60
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 沈园园
地址: 610015 四川省成都市中国(四川)自*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 体积 渲染 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种体积云渲染方法,其特征在于,包括:

将体积云的原网格模型按照顶点法线方向向外绘制至少一层网格模型;

基于每层所述网格模型对应的噪声阈值对所述网格模型的像素点进行筛选,得到绘制模型;

根据光照参数计算所述绘制模型对应的光照信息;

根据所述光照信息对所述绘制模型进行渲染,得到待显示体积云。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于每层所述网格模型对应的噪声阈值对所述网格模型的像素点进行筛选,得到绘制模型,包括:

获取每层所述网格模型对应的噪声阈值;

基于每层所述网格模型对预设噪声图进行采样,得到噪声值;

对每层所述网格模型筛选所述噪声阈值小于和等于所述噪声值的像素点,得到所述绘制模型。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取每层所述网格模型对应的噪声阈值,包括:

获取每层所述网格模型对应的噪声函数,所述噪声函数为以所述像素点的坐标为变量的线性函数;

根据所述噪声函数得到每层所述网格模型像素点对应的噪声边界值;

对所述噪声边界值进行幂运算,得到所述噪声阈值。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据光照参数计算所述绘制模型对应的光照信息之前,所述方法还包括:

将所述原网格模型的顶点坐标作为第一输入参数输入图形处理器中的第一着色器;

通过带所述第一输入参数的第一着色器,得到所述绘制模型的顶点坐标。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述光照信息对所述绘制模型进行渲染,包括:

将所述原网格模型的顶点数据缓存至显存中;

将每层所述网格模型对应的绘制命令进行排序并合批后,将得到的合批命令添加至命令缓冲区;

由图形处理器从所述命令缓冲区读取所述合批命令,基于所述合批命令及所述原网格模型的顶点数据执行渲染操作。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述光照信息对所述绘制模型进行渲染,还包括:

根据每层所述网格模型对应的噪声阈值及每层所述网格模型相对于所述原网格模型的偏移量,生成材质属性块;

将所述材质属性块作为第二输入参数输入所述图形处理器中的第二着色器;

所述由图形处理器从所述命令缓冲区读取所述合批命令,基于所述合批命令及所述原网格模型的顶点数据执行渲染操作,包括:

由带所述第二输入参数的第二着色器,根据所述合批命令及所述原网格模型的顶点数据进行所述体积云的渲染。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据光照参数计算所述绘制模型对应的光照信息,包括:

根据所述绘制模型各像素点的法线向量及光照方向向量计算各所述像素点对应的第一漫反射信息;

将所述第一漫反射信息作为所述光照参数;

基于所述光照参数计算各所述像素点对应的像素颜色,得到所述光照信息。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据光照参数计算所述绘制模型对应的光照信息,还包括:

对所述第一漫反射信息进行半兰博计算,得到半兰博光照参数;

获取每层所述网格模型对应的噪声阈值;

根据所述噪声阈值及所述半兰博光照参数,拟合得到各所述像素点的第二漫反射信息;

将所述第二漫反射信息作为所述光照参数。

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