[发明专利]一种射频开关响应时间的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种射频开关芯片响应时间的测试方法及系统，所述方法包括ATE射频信号源以预设的频率和功率输出发射信号给待测射频开关；数字信号处理器输出DUT控制信号给待测射频开关以控制待测射频开关的状态；ATE射频接收机接收待测射频开关输出的发射信号，对接收的信号进行处理，将处理后的接收信号发送给数字信号处理器；数字信号处理器对处理后的接收信号进行处理，输出测试结果；所述系统包括数字信号处理器、ATE射频信号源、ATE射频接收机和待测射频开关。本发明在信号接收机的基础上经过数字域处理，不受检波器的时间响应影响，不受示波器的分析带宽的影响，可处理信号带宽宽，提高ATE设备的测试速率，降低硬件复杂性。

技术领域

本发明涉及开关测试技术领域，尤其涉及一种射频开关响应时间的测试方法及系统。

背景技术

射频开关的时间响应是射频开关的重要指标，能够完全表征其开启和关闭速度，以及信号稳定时间。在射频开关时间响应测试中，主要分为两类，即开关响应时间，分为开启时间(tON)和关闭时间(tOFF)，以及功率响应时间，分为功率上升时间(tRISE)和功率下降时间(tFALL)。这些测试均是对控制信号以及输入输出射频信号的功率值(包络)进行的检测，分别表征了开启关闭时间以及信号稳定时间。

当前测试射频开关时间响应的方法中，主要有两种，一种是采用检波器的形式，将射频信号的功率检波成电压信号，再对电压信号进行检测分析。另一种是采用示波器的方式，利用示波器的低带宽检波特性，即可直接将信号的实时包络显示在屏幕，这时，为了能够将信号完整的接收，就要求示波器的带宽大于接收频率。

采用检波器的时间响应测试方式的问题是检波器的时间响应问题。检波器的功能是将射频信号的功率信号转变为电压信号，在这一转变过程中会有变换的延时，而该延时就会反应到电压信号的上升沿或者下降沿中，在DUT(被测器件)的上升沿或者下降沿比检波器慢很多时，可以将检波器的延时作为误差信号反应到DUT的测试结果中，但当DUT的响应时间与检波器的响应时间相差不大时，检波器的延时叠加到DUT的响应上，从而导致DUT错误的测试结果。

而采用示波器进行测试时，受示波器带宽的影响，只能采用示波器带宽内的频率信号进行测试，或者是为了实现高频的响应时间测试，只能采用更高带宽的示波器进行测试，从而大大增加了系统测试成本和复杂性。

发明内容

本发明提供一种射频开关响应时间的测试方法及系统，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。

第一方面，本发明实施例提供了一种射频开关响应时间的测试方法，所述方法包括：

ATE射频信号源以预设的频率和功率输出发射信号给待测射频开关；

数字信号处理器输出DUT控制信号给待测射频开关以控制待测射频开关的状态；

ATE射频接收机接收待测射频开关输出的发射信号，对接收的信号进行处理，并将处理后的接收信号发送给数字信号处理器；

数字信号处理器对所述处理后的接收信号进行处理，输出测试结果；

其中，数字信号处理器包括乒乓FIFO、数字乘法器、数字低通滤波器、信号合成模块和信号检测计算模块，所述数字信号处理器对所述处理后的接收信号进行处理，输出测试结果包括：

所述处理后的接收信号写入乒乓FIFO，乒乓FIFO将写入的信号作为两路相同的信号以预定的速率输出至数字乘法器；

数字乘法器将两路相同的信号相乘得到自乘信号，并将自乘信号发送给数字低通滤波器；

数字低通滤波器对自乘信号进行滤波，将自乘信号的直流信号保留，高频信号滤除得到滤波信号，输出滤波信号至信号合成模块；

信号合成模块对不同时刻的滤波信号进行合成处理得到合成信号，将合成信号输出至信号检测计算模块；