[发明专利]显示模块校正方法以及显示模块校正系统

说明书

本发明公开一种显示模块校正系统以及显示模块校正方法，显示模块校正系统包括一显示模块检测装置以及一待测显示模块。显示模块检测装置提供一点灯检测信号以及一分屏信号。待测显示模块电性连接显示模块检测装置，接收点灯检测信号以及分屏信号。当待测显示模块发生一亮度非均匀状态时，显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区，并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息。显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。

技术领域

本发明涉及一种显示模块校正方法以及显示模块校正系统，尤其涉及一种节省测试时间的显示模块校正方法以及显示模块校正系统。

背景技术

显示模块制造厂商在自动化生产过程容易遇到测试过程异常而无法执行缺陷校正的问题，尤其是亮度不均匀(Mura)的情况。然而，多数校正方法都需要大量的计算时间以及调整过程。

因此，提供一种节省测试时间的显示模块校正系统以及显示模块校正模块，已经是业界的一个重要课题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种显示模块校正方法，包含以下步骤：提供一点灯测试信号至一待测显示模块，以获得待测显示模块的一亮度均匀度信息；依据亮度均匀度信息判断，当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，提供一分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区；获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息；以及依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。

本发明还公开了一种显示模块校正系统，其特征在于，包含：一显示模块检测装置，提供一点灯检测信号以及一分屏信号；以及一待测显示模块，电性连接显示模块检测装置，接收点灯检测信号以及分屏信号；当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时，显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块，将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区，并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息，显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。

本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法，是撷取待测显示模块部分的像素区块进行亮度平均差异值的计算，以待测显示模块部分区域的像素区块进行补偿，来提高亮度均匀度，同时可以节省计算量以及测试时间。此外，本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法亦可将原本无法修复的分屏缺陷修复成正常效果，有效提升校正的执行率。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本发明加以限制。

附图说明

图1是本发明第一实施例的显示模块校正方法的流程图。

图2是应用本发明第一实施例的显示模块校正方法的一显示模块校正系统的示意图。

图3是本发明第一实施例中的显示模块检测装置的结构示意图。

图4是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第一分屏信号进行校正的示意图。

图5是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第二分屏信号进行校正的示意图。

图6是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第三分屏信号进行校正的示意图。

图7是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第四分屏信号进行校正的示意图。

图8是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第五分屏信号进行校正的示意图。

图9是本发明第二实施例中的显示模块检测装置根据另一组分屏信号进行校正的示意图。

具体实施方式