[发明专利]高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置

权利要求书

1.高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，其特征在于：由储料箱（1），及设置在储料箱（1）两端底面的一组竖支撑腿（4），及设置在储料箱（1）上的进料口（2）、出料口（3），及设置在储料箱（1）下部内壁的密封板（8），及对称设置在密封板（8）内的一组密封板通孔（9），及两端分别与一组竖支撑腿（4）内壁连接的横气缸安装板（5），及与密封板（8）、横气缸安装板（5）相配合使用的反射组件，及与反射组件相配合使用的检测组件组成；所述反射组件，包括对称设置在横气缸安装板（5）上的一组竖气缸（10），及分别与一组竖气缸（10）连接的内螺纹孔连接套（19），及分别与内螺纹孔连接套（19）连接的螺杆（20），及分别设置在螺杆（20）上的一组锁紧螺母（23）、螺杆密封圈（24），及分别与螺杆（20）相配合使用的反射板定位耳板（21），及分别与反射板定位耳板（21）连接的反射板（18），其中，反射板定位耳板（21）内分别设置有与螺杆（20）相配合使用的螺杆通孔（22）；所述检测组件，包括对称设置在储料箱（1）两侧外壁的第一形支撑板（25）、第二形支撑板（26），及分别设置在第一形支撑板（25）、第二形支撑板（26）一端的第一横气缸安装板（27）、第二横气缸安装板（28），及分别安装在第一横气缸安装板（27）、第二横气缸安装板（28）上的第一横气缸（29）、第二横气缸（30），及分别与第一横气缸（29）、第二横气缸（30）连接的第一横连接套（31）、第二横连接套（32），及分别与第一横连接套（31）、第二横连接套（32）连接的第一中空声波导管定位座（33）、第二中空声波导管定位座（34），及分别设置在第一中空声波导管定位座（33）、第二中空声波导管定位座（34）内的第一斜声波导管安装通孔（36）、第二斜声波导管安装通孔（37），及分别安装在第一斜声波导管安装通孔（36）、第二斜声波导管安装通孔（37）内的第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38），其中，储料箱（1）上设置有与第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38）相配合使用的腰形通槽（6），及设置在储料箱（1）上且与腰形通槽（6）、第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38）相配合使用的腰形带通槽密封块（7）。

2.根据权利要求1所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，其特征在于：所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，还包括设置在密封板（8）内且位于一组密封板通孔（9）之间的支撑柱通孔（14），及一端贯穿支撑柱通孔（14）且与反射板（18）底面连接的竖支撑柱（15），及设置在竖支撑柱（15）上的竖支撑柱密封圈（16），及设置在竖支撑柱（15）另一端的半圆形限位圈（17），及设置在储料箱（1）底面内壁的辅助竖支撑柱（11），及设置在辅助竖支撑柱（11）一端的辅助半圆形限位圈（12），及设置在竖支撑柱（15）、辅助竖支撑柱（11）之间且与半圆形限位圈（17）、辅助半圆形限位圈（12）相配合使用的支撑滚珠（13）。

3.根据权利要求1或2所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，其特征在于：所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，还包括对称设置在储料箱（1）上部两侧内壁的第一定位横中空螺套（40）、第二定位横中空螺套（41），及分别与第一定位横中空螺套（40）、第二定位横中空螺套（41）连接的第一横螺杆（42）、第二横螺杆（43），及分别与第一横螺杆（42）、第二横螺杆（43）连接的第一横U形板（44）、第二横U形板（45），及分别设置在第一横U形板（44）、第二横U形板（45）内的第一横U形板通孔（46）、第二横U形板通孔（47），其中，第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38）的一端分别贯穿第一横U形板通孔（46）、第二横U形板通孔（47）。

4.根据权利要求3所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，其特征在于：所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，还包括分别设置在第一横U形板通孔（46）、第二横U形板通孔（47）内且与第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38）相配合使用的第一辅助垫套（48）、第二辅助垫套（49）。

5.根据权利要求4所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，其特征在于：所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置，还包括分别与第一中空声波导管（39）、第二中空声波导管（38）相配合使用的声波发生器（50）、声波接收器（51）。