[发明专利]一种基于形位等效反推控制的热振动试验装置及试验方法

权利要求书

1.一种基于形位等效反推控制的热振动试验方法，其特征在于，使用基于形位等效反推控制的热振动试验装置，所述试验装置包括：振动台、热源、工装(205)、第一温度传感器(206)、第二温度传感器(207)、第一加速度传感器(203)和第二加速度传感器(204)；

所述振动台包括振动台台面(202)，所述振动台用于对试验件(201)加载振动，所述工装(205)安装在振动台台面(202)上，用于夹持试验件(201)，所述热源用于加热试验件(201)；

所述试验方法包括以下步骤：

步骤1：在常温状态下进行振动调试，得到振动台台面(202)的控制谱；

步骤2：在加温状态下进行温度调试，得到工装(205)上响应的第二温度-时间曲线；

步骤3：以调试后得到的振动台台面(202)的控制谱和工装(205)上响应的第二温度-时间曲线为控制输入，开展热振试验；

所述步骤1包括：

步骤1.1：常温状态下，在试验件(201)上粘贴第一加速度传感器(203)，在振动台台面(202)上粘贴第二加速度传感器(204)；

步骤1.2：以试验件(201)上的第一加速度传感器(203)为振动控制点，振动台台面(202)上的第二加速度传感器(204)为振动测量点，对试验件(201)施加振动，记录振动台台面(202)上振动测量点的频谱曲线；

步骤1.3：将振动控制点和振动测量点互换，以第二加速度传感器(204)输出得到的第二频谱曲线作为控制谱，再次调试试验获得新的振动台台面(202)控制谱；

所述步骤2包括：

步骤2.1：在处于同一个温区下的试验件(201)和工装(205)上分别布置第一温度传感器(206)和第二温度传感器(207)；

步骤2.2：以试验件(201)上的第一温度传感器(206)作为温度控制点，工装(205)上的第二温度传感器(207)为温度测量点，记录工装(205)上第二温度传感器(207)响应的第二温度-时间曲线；

步骤2.3：将温度控制点和温度测量点互换，将第二温度传感器(207)记录的第二温度-时间曲线作为控制输入，再次调试试验获得新的工装(205)上响应的第二温度-时间曲线。

2.根据权利要求1所述的基于形位等效反推控制的热振动试验方法，其特征在于，步骤3中，对试验件(201)加载振动激励和温度载荷，考察试验件在试验中是否发生破坏。

3.根据权利要求1所述的基于形位等效反推控制的热振动试验方法，其特征在于，所述工装(205)使用耐高温金属材料。

4.根据权利要求1所述的基于形位等效反推控制的热振动试验方法，其特征在于，所述热源与试验件(201)表面距离为50-100mm。