[发明专利]一种用于电子束流的能量测量系统

说明书

本发明提供一种用于电子束流的能量测量系统，包括：一种用于电子束流的能量测量系统，包括：铝基板，铝基板的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；电路板，设置于放置平面上且位于铝基板的下表面的下方，并与铝基板的下表面平行；电路板上设置有与铝基板上表面的铝基阶级一一对应的探测器，探测器用于探测从铝基板的上表面射入并穿过铝基板的下表面的电子束形成的电流；预处理模块，分别连接各个探测器，用于对探测器采集的电流进行预处理；数据分析模块，连接预处理模块，用于对预处理后的电流进行分析得到电子束流的最可几能量和平均能量。结构简单，测试成本低，测试方便。

技术领域

本发明涉及电子束辐照剂量测定技术，尤其涉及一种用于电子束流的能量测量系统。

背景技术

众所周知，电子束辐射加工具有辐射功率大、剂量率高、加工速度快、成本低等优点，近年来在国内外发展很快。据不完全统计，目前我国电子加速器已增至200多台，而且还呈快速增长趋势。

现有技术一般都使用射程法即采用测量电子束在密度均匀物质中的射程 R_p来确定其能量。然而现有技术存在电子束流的能量测量系统成本高、测量复杂的技术问题。

发明内容

本发明提供一种用于电子束流的能量测量系统，旨在解决现有技术中能量测量系统成本高、测量复杂的技术问题。

一种用于电子束流的能量测量系统，包括：

铝基板，铝基板的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；

电路板，设置于放置平面上且位于铝基板的下表面的下方，并与铝基板的下表面平行；

电路板上设置有与铝基板上表面的铝基阶级一一对应的探测器，探测器用于探测从铝基板的上表面射入并穿过铝基板的下表面的电子束形成的电流信号；

预处理模块，分别连接各个探测器，用于对探测器采集的电流信号进行预处理；

数据分析模块，连接预处理模块，用于对预处理后的电流信号进行分析得到电子束流的最可几能量和平均能量。

进一步的，铝基板的上表面的相邻的铝基阶级之间具有相等的高度差。

进一步的，高度差为1mm。

进一步的，铝基板的下表面的下方放置有两个电路板，两个电路板彼此平行。

进一步的，铝基板的下表面的两侧边分别具有一支撑部，支撑部和铝基板的下表面之间形成一用于容纳电路板的容纳空间。

进一步的，预处理模块包括一采样电阻，采样电阻连接探测器，用于对电流信号进行采样得到所述电流信号；

一初级比例运算放大电路，初级比例运算放大电路的输入端连接采样电阻，用于对电流信号进行第一次放大处理；

一次级比例运算放大电路，次级比例运算放大电路的输入端连接初级比例运算放大电路的输出端，用于对电流信号进行第二次放大处理；

一模数转换电路，模数转换电路的输入端连接次级比例运算放大电路的输出端，模数转换电路的输出端连接至数据分析模块，用于将电流信号的信号由模拟信号转换成数字信号；

控制模块，连接模数转换电路，用于将电流信号发送至数据分析模块。

进一步的，数据分析模块包括：

曲线绘制单元，用于根据铝基板和对应的电流信号绘制电子束流的射程曲线图；

第一处理单元，连接曲线绘制单元，用于根据电子束流的射程曲线图求得电子束流的实际射程和半值深度。

进一步的，数据分析模块还包括：