[发明专利]一种墙面平整度的测定方法

权利要求书

1.一种墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

在待测定墙面上选定多个待测定墙面点；

测量多个所述待测定墙面点对应的初始假定坐标；

基于多个所述待测定墙面点建立墙面坐标系；

将多个所述初始假定坐标转换至所述墙面坐标系中以得到多个墙面坐标；

基于多个所述墙面坐标计算所述墙面的平整度。

2.根据权利要求1所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述在待测定墙面上选定多个待测定墙面点包括步骤：

在所述待测定墙面的下边缘选定第一墙面点；

在所述待测定墙面的下边缘选定与所述第一墙面点等高的第二墙面点。

3.根据权利要求1所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述测量多个所述待测定墙面点对应的初始假定坐标包括步骤：

在所述待测定墙面前地面任意点处安装免棱镜式全站仪；

向所述免棱镜式全站仪中输入测站坐标(0，0，0)；

转动所述免棱镜式全站仪使其对准所述待测定墙面点中的第一墙面点；

向所述免棱镜式全站仪中输入后视定向方位角0°；

按下坐标测量键依次顺序观测所有所述待测定墙面点的初始假定坐标。

4.根据权利要求1所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述基于多个所述待测定墙面点建立墙面坐标系包括步骤：

选定所有所述待测定墙面点中的第一墙面点；

以所述第一墙面点为原点并沿垂直墙面向里方向设置X′轴；

按照左手坐标系沿水平面方向设置垂直所述X′轴的Y′轴；

沿垂直向上的方向设置垂直所述X′轴和所述Y′轴的Z′轴。

5.根据权利要求1所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述将多个所述初始假定坐标转换至所述墙面坐标系中以得到多个墙面坐标包括步骤：

获取所述待测定墙面点中第一墙面点和第二墙面点分别对应的第一初始假定坐标值和第二初始假定坐标值；

根据所述第一初始假定坐标值和所述第二初始假定坐标值计算所述第一墙面点和所述第二墙面点之间的坐标方位角T₁₂；

计算所述初始假定坐标与所述墙面坐标系的转换角及坐标平移值；

基于所述转换角及所述坐标平移值计算所述初始假定坐标对应的所述墙面坐标。

6.根据权利要求1所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述基于多个所述墙面坐标计算所述墙面的平整度包括步骤：

获取墙面误差方程式和各所述墙面坐标；

基于所述墙面误差方程式和各所述墙面坐标计算得到误差方程组；

基于所述误差方程组计算得到墙面平面方程；

基于所述墙面平面方程和各所述墙面坐标计算得到各所述待测定墙面点的理论值；

基于各所述待测定墙面点的理论值和实际值计算得到偏差值；

基于所述偏差值计算得到墙面平整度。

7.根据权利要求6所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述墙面误差方程式的表达式为：

vi＝aXi+bYi+c-Zi；

其中，vi表示所述待测定墙面点的误差值，a、b和c均为系数，Xi、Yi和Zi分别表示所述待测定墙面点的X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标。

8.根据权利要求6所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述误差方程组的表达式为：

其中，v1、v2和v3分别表示所述待测定墙面点的误差值，a、b和c均为系数，xm、ym和zm分别表示所述待测定墙面点的X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，m＝1、2……n。

9.根据权利要求6所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述墙面平面方程的表达式为：

Zi＝aXi+bYi+c，

其中，a、b和c均为系数，Xi、Yi和Zi分别表示所述待测定墙面点的X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标。

10.根据权利要求6所述的墙面平整度的测定方法，其特征在于，所述墙面平整度的表达式为：

其中，σ表示墙面平整度，δ表示偏差值，n表示所述待测定墙面点个数。