[发明专利]光空间分布测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 202011404660.8 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112378628A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 刘召军;莫炜静;陈思凡;余兵飞;王书龙;黄利将 申请(专利权)人: 深圳市思坦科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 空间 分布 测量 系统 方法
【说明书】:

发明实施例公开了一种光空间分布检测系统及方法。该系统包括测量模块和样品模块,其中:测量模块包括测量移动平台和亮度计,亮度计固定于测量移动平台,测量移动平台包括横向导轨和纵向导轨,横向导轨用于带动亮度计水平横向移动,纵向导轨用于带动亮度计水平纵向移动;样品模块包括样品夹具和样品移动平台,样品夹具固定于样品移动平台,样品移动平台包括水平转台和垂直转台,水平转台用于带动样品夹具水平旋转,垂直转台用于带动样品夹具垂直旋转。本发明实施例直接测量样品的亮度值,而并非根据距离平方反比定律换算到亮度值,并且测量时并未将面光源视为点光源,测量结果更精准,同时可以测量微小面积光源的光分布情况,适用范围更广。

技术领域

本发明涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种光空间分布测量系统及方法。

背景技术

目前业界Micro-LED光特性测量的技术极其有限,尤其是能够测量微米级尺度量级Micro-LED光电特性的设备尚属空白。传统的测量系统的缺点为:其测量照度值是按照距离平方反比定律换算到光强度的,E=I/r^2;其缺点第一为所述测量效果不理想,距离平方反比定律失效,第二为将微显示屏视为点光源,第三为其仅仅适用于点光源测量需求的照明行业。

发明内容

本发明实施例提供一种光空间分布测量系统及方法,可以测量微小面积光源的光分布情况,适用范围更广。

第一方面,本发明实施例提供了一种光空间分布测量系统,包括测量模块和样品模块,其中:

所述测量模块包括测量移动平台和亮度计,所述亮度计固定于所述测量移动平台,所述测量移动平台包括横向导轨和纵向导轨,所述横向导轨用于带动所述亮度计水平横向移动,所述纵向导轨用于带动所述亮度计水平纵向移动;

所述样品模块包括样品夹具和样品移动平台,所述样品夹具固定于所述样品移动平台,所述样品移动平台包括水平转台和垂直转台,所述水平转台用于带动所述样品夹具水平旋转,所述垂直转台用于带动所述样品夹具垂直旋转。

可选的,在一个实施例中,光空间分布测量系统还包括测量平台,所述测量模块和所述样品模块固定于所述测量平台。

可选的,在一个实施例中,所述测量模块与所述样品模块水平设置,所述样品夹具固定于所述垂直转台。

可选的,在一个实施例中,所述测量移动平台还包括亮度计支架,所述亮度计支架用于带动所述亮度计垂直移动。

可选的,在一个实施例中,光空间分布测量系统还包括支架,所述测量模块通过所述支架固定于所述样品模块的上方。

可选的,在一个实施例中,所述样品移动平台还包括水平导轨,所述水平导轨固定于所述水平转台,所述垂直转台固定于所述水平导轨,所述垂直转台通过微调节杆在所述水平导轨上水平移动。

可选的,在一个实施例中,光空间分布测量系统还包括控制模块,所述控制模块连接所述测量模块和样品模块,用于根据用户的操作控制横向导轨、纵向导轨、水平转台和垂直转台。

可选的,在一个实施例中,光空间分布测量系统还包括激光校准模块,所述控制模块还用于根据预先存储的程序指令调用所述激光校准模块进行系统校准。

第二方面,本发明实施例还提供了一种光空间分布测量方法,包括

将待测样品固定于样品夹具;

通过测量移动平台移动亮度计使得亮度计取光面积包括待测样品上的待测光源;

通过水平转台和垂直转台带动样品夹具旋转以使得亮度计采集待测光源不同角度的亮度值,得到三维光空间分布数据;

根据所述三维光空间分布数据确定待测光源的测量亮度值。

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