[发明专利]光学测量参考装置在审

专利信息
申请号: 202011408031.2 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN112525176A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 杜华;董伟超;李智;李洲强 申请(专利权)人: 北京天远三维科技股份有限公司
主分类号: G01C15/02 分类号: G01C15/02
代理公司: 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 代理人: 杨中鹤;麻雪梅
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光学 测量 参考 装置
【权利要求书】:

1.一种光学测量参考装置,其特征在于,包括至少四个靶标(1)和至少一个主体支撑结构,每个所述靶标(1)分别固定于所述主体支撑结构的不同顶点上,所述主体支撑结构的顶点呈共球面分布,每个所述靶标(1)均包括与所述主体支撑结构连接的固定部、远离所述主体支撑结构的端头部以及位于所述固定部与所述端头部之间的侧端部,所述侧端部上设有至少一组第一标记点(2),每组所述第一标记点(2)至少设有三个且沿所述侧端部外壁的周向间隔设置,每组所述第一标记点(2)的中心均位于同一平面上,同一组的所述第一标记点(2)的中心所在平面平行于相对应的所述靶标(1)所在的所述共球面的切平面,每组所述第一标记点(2)之间可至少组成一个锐角三角形,所述主体支撑结构上设有安装部,所述安装部位于所述靶标(1)所在的所述共球面的内部。

2.根据权利要求1所述的光学测量参考装置,其特征在于,每个所述靶标(1)上均设有至少一个第二标记点(3),所述第二标记点(3)设置在所述端头部上。

3.根据权利要求2所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述第一标记点(2)和所述第二标记点(3)均为与所述靶标(1)贴合的平面标记结构。

4.根据权利要求3所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述第一标记点(2)和所述第二标记点(3)均为圆形。

5.根据权利要求3所述的光学测量参考装置,其特征在于,每个所述靶标(1)所在的所述共球面的切平面与相对应的所述第一标记点(2)所在平面的法向之间的夹角小于45°,每个所述靶标(1)所在的所述共球面的切平面与相对应的所述第二标记点(3)所在平面之间的夹角小于20°。

6.根据权利要求3所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述靶标(1)为圆台状结构,所述固定部位于所述靶标(1)的下底面,所述端头部位于所述靶标(1)的上底面,所述侧端部位于所述靶标(1)的侧面,所述靶标(1)的侧面等间隔环设有所述第一标记点(2),所述靶标(1)的上底面的中心设有一个所述第二标记点(3)。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述主体支撑结构包括连接在各个所述靶标(1)之间的支撑杆(6),所述靶标(1)位于由所述支撑杆(6)形成的多面体结构的顶点上。

8.根据权利要求7所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述固定部包括多个用于与所述支撑杆(6)插接配合的插接孔。

9.根据权利要求8所述的光学测量参考装置,其特征在于,所述固定部可拆卸的设置在所述靶标(1)上。

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