[发明专利]一种基于化学腐蚀法的无芯光纤迈克尔逊结构制备方法在审

专利信息
申请号: 202011409660.7 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN112729571A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 祝连庆;郝思源;张雯;娄小平;董明利;何巍;李红 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G01M11/02;G02B6/25
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 王琦;庞立岩
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 化学 腐蚀 光纤 迈克 结构 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于化学腐蚀法的无芯光纤迈克尔逊结构制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

(1)去除无芯光纤尾端涂覆层,使用酒精擦拭;

(2)将擦拭后的无芯光纤固定在支架后,将去除涂覆层一端插入到氢氟酸溶液中进行腐蚀处理;

(3)将腐蚀处理后的光纤放入超声清洗机中清洗,去除残留酸;

(4)将清洗后的无芯光纤的腐蚀端镀银膜。

2.根据权利要求1所述的迈克尔逊结构制备方法,其特征在于,所述氢氟酸溶液的浓度为30%-50%。

3.根据权利要求1所述的迈克尔逊结构制备方法,其特征在于,所述腐蚀处理的时间为15-25min。

4.根据权利要求1所述的迈克尔逊结构制备方法,其特征在于,所述腐蚀处理还包括对腐蚀程度的控制,包括以下过程:取10根相同规格无芯光纤,去除尾端涂覆层后插入氢氟酸溶液中,每腐蚀10min取出1根无芯光纤,经清洗去除残留酸后在显微镜下测量,使用光谱仪测定其光谱,绘制无芯光纤直径随腐蚀处理时间变化关系曲线,根据测定光谱选择腐蚀处理时间。

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