[发明专利]一种二维转台折转光学组件的调试方法有效
申请号: | 202011410424.7 | 申请日: | 2020-12-04 |
公开(公告)号: | CN112596258B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 李小燕;曹明强;岳娟;侯晓华;韩娟;康世发;李华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B27/62 | 分类号: | G02B27/62 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二维 转台 折转 光学 组件 调试 方法 | ||
1.一种二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、搭建调试系统
1.1)将工装座(5)紧固在装调平台上,将待调试二维转台的转台方位轴(1)通过方位法兰与工装座(5)连接;
1.2)在待调试二维转台的转台俯仰轴(2)俯仰法兰上安装俯仰轴标定工装(4);所述俯仰轴标定工装(4)包括同轴固定在待调试二维转台的转台俯仰轴(2)俯仰法兰端面上的法兰连接框(41)、同轴套设在法兰连接框(41)内部的光学分划板镜框(42)、同轴设置在光学分划板镜框(42)上的光学分划板(43)、用于调整光学分划板(43)沿Y轴或Z轴旋转的倾斜调整旋钮(44)、以及用于调整光学分划板(43)沿Y轴或Z轴移动的平移调整旋钮(45);所述光学分划板(43)的中心刻有十字叉丝;
步骤2、俯仰轴光学标定
2.1)将自准直仪(7)架设在光学分划板(43)的准直光路中;
2.2)将自准直仪(7)调焦到无穷远,光学分划板(43)随转台俯仰轴(2)旋转时,观察自准像在自准直仪(7)中的晃动情况;通过调节倾斜调整旋钮(44),调整光学分划板(43)的倾斜角度,使自准像在自准直仪(7)中的晃动量达到最小;
2.3)将自准直仪(7)调焦到有限远距离,观察转台俯仰轴(2)旋转一周时,光学分划板(43)中心十字叉丝像在自准直仪(7)中的画圆量,通过调节平移调整旋钮(45),调整光学分划板(43)径向移动,使十字叉丝像在自准直仪(7)中的画圆量达到最小;
2.4)重复步骤2.2),保证自准像在自准直仪(7)中的晃动量达到最小,完成俯仰轴光学标定;
步骤3、折转光学组件调试
3.1)在工装座(5)的中心放置光路折轴棱镜(6),将自准直仪(7)架设在光路折轴棱镜(6)的准直光路中;
3.2)将自准直仪(7)调焦到无穷远,与光路折轴棱镜(6)的前表面自准直;安装转台折轴镜(3),使自准直仪(7)发出的平行光A0经光路折轴棱镜(6)及转台折轴镜(3)两次反射后,入射到光学分划板(43),光学分划板(43)返回的像经转台折轴镜(3)及光路折轴棱镜(6)两次反射后,在自准直仪(7)视场中形成自准像A1;
3.3)将转台方位轴(1)由0°转动180°,记录自准直仪(7)内自准像的最大晃动量ΔH及ΔV,调整转台折轴镜(3)的空间姿态补偿ΔH及ΔV,使自准直仪(7)中的自准像A1晃动量达到最小;
3.4)将自准直仪(7)调焦到有限远距离,使自准直仪(7)发出的平行光A0经光路折轴棱镜(6)及转台折轴镜(3)的两次反射后,入射到光学分划板(43),光学分划板(43)中心的十字叉丝像经转台折轴镜(3)及光路折轴棱镜(6)两次反射后,在自准直仪(7)中形成十字叉丝像;
3.5)将转台方位轴(1)由0°转动到180°,记录转台方位轴(1)在0°时自准直仪(7)中的十字叉丝像位置,与转台方位轴(1)在180°时自准直仪(7)中的十字叉丝像位置,获得两位置的偏移量DH及DV,调整转台折轴镜(3)的位置消除偏移量DV;
3.6)重复步骤3.2)及3.3),使自准直仪(7)中的自准像A1晃动量达到最小,完成折转光学组件调试。
2.根据权利要求1所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤1.2)中,所述光学分划板(43)为平面反射玻璃,平面度优于0.02λ。
3.根据权利要求1或2所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤1.2)中,所述倾斜调整旋钮(44)设置在光学分划板镜框(42)的端面;所述平移调整旋钮(45)设置在法兰连接框(41)外侧。
4.根据权利要求1所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤3.2)中,所述在自准直仪(7)视场中形成自准像A1,是通过绕X轴或Y轴旋转转台折轴镜(3)实现的。
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