[发明专利]一种二维转台折转光学组件的调试方法有效

专利信息
申请号: 202011410424.7 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN112596258B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 李小燕;曹明强;岳娟;侯晓华;韩娟;康世发;李华 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 二维 转台 折转 光学 组件 调试 方法
【权利要求书】:

1.一种二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1、搭建调试系统

1.1)将工装座(5)紧固在装调平台上,将待调试二维转台的转台方位轴(1)通过方位法兰与工装座(5)连接;

1.2)在待调试二维转台的转台俯仰轴(2)俯仰法兰上安装俯仰轴标定工装(4);所述俯仰轴标定工装(4)包括同轴固定在待调试二维转台的转台俯仰轴(2)俯仰法兰端面上的法兰连接框(41)、同轴套设在法兰连接框(41)内部的光学分划板镜框(42)、同轴设置在光学分划板镜框(42)上的光学分划板(43)、用于调整光学分划板(43)沿Y轴或Z轴旋转的倾斜调整旋钮(44)、以及用于调整光学分划板(43)沿Y轴或Z轴移动的平移调整旋钮(45);所述光学分划板(43)的中心刻有十字叉丝;

步骤2、俯仰轴光学标定

2.1)将自准直仪(7)架设在光学分划板(43)的准直光路中;

2.2)将自准直仪(7)调焦到无穷远,光学分划板(43)随转台俯仰轴(2)旋转时,观察自准像在自准直仪(7)中的晃动情况;通过调节倾斜调整旋钮(44),调整光学分划板(43)的倾斜角度,使自准像在自准直仪(7)中的晃动量达到最小;

2.3)将自准直仪(7)调焦到有限远距离,观察转台俯仰轴(2)旋转一周时,光学分划板(43)中心十字叉丝像在自准直仪(7)中的画圆量,通过调节平移调整旋钮(45),调整光学分划板(43)径向移动,使十字叉丝像在自准直仪(7)中的画圆量达到最小;

2.4)重复步骤2.2),保证自准像在自准直仪(7)中的晃动量达到最小,完成俯仰轴光学标定;

步骤3、折转光学组件调试

3.1)在工装座(5)的中心放置光路折轴棱镜(6),将自准直仪(7)架设在光路折轴棱镜(6)的准直光路中;

3.2)将自准直仪(7)调焦到无穷远,与光路折轴棱镜(6)的前表面自准直;安装转台折轴镜(3),使自准直仪(7)发出的平行光A0经光路折轴棱镜(6)及转台折轴镜(3)两次反射后,入射到光学分划板(43),光学分划板(43)返回的像经转台折轴镜(3)及光路折轴棱镜(6)两次反射后,在自准直仪(7)视场中形成自准像A1

3.3)将转台方位轴(1)由0°转动180°,记录自准直仪(7)内自准像的最大晃动量ΔH及ΔV,调整转台折轴镜(3)的空间姿态补偿ΔH及ΔV,使自准直仪(7)中的自准像A1晃动量达到最小;

3.4)将自准直仪(7)调焦到有限远距离,使自准直仪(7)发出的平行光A0经光路折轴棱镜(6)及转台折轴镜(3)的两次反射后,入射到光学分划板(43),光学分划板(43)中心的十字叉丝像经转台折轴镜(3)及光路折轴棱镜(6)两次反射后,在自准直仪(7)中形成十字叉丝像;

3.5)将转台方位轴(1)由0°转动到180°,记录转台方位轴(1)在0°时自准直仪(7)中的十字叉丝像位置,与转台方位轴(1)在180°时自准直仪(7)中的十字叉丝像位置,获得两位置的偏移量DH及DV,调整转台折轴镜(3)的位置消除偏移量DV

3.6)重复步骤3.2)及3.3),使自准直仪(7)中的自准像A1晃动量达到最小,完成折转光学组件调试。

2.根据权利要求1所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤1.2)中,所述光学分划板(43)为平面反射玻璃,平面度优于0.02λ。

3.根据权利要求1或2所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤1.2)中,所述倾斜调整旋钮(44)设置在光学分划板镜框(42)的端面;所述平移调整旋钮(45)设置在法兰连接框(41)外侧。

4.根据权利要求1所述二维转台折转光学组件的调试方法,其特征在于:步骤3.2)中,所述在自准直仪(7)视场中形成自准像A1,是通过绕X轴或Y轴旋转转台折轴镜(3)实现的。

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