[发明专利]电源插件健康状态检测方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种电源插件健康状态检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测电源插件的当次实测运行参数；

根据与所述待检测电源插件相关的历史运行参数确定所述待检测电源插件的预测运行参数；

根据所述待检测电源插件的当次实测运行参数与所述待检测电源插件的出厂数据的匹配程度、以及所述待检测电源插件的当次实测运行参数与所述预测运行参数的匹配程度确定所述待检测电源插件的健康状态；

所述与所述待检测电源插件相关的历史运行参数包括第一历史运行参数，所述第一历史运行参数为退运数据库中与所述待检测电源插件相同型号的电源插件的历次测量运行参数；

所述根据与所述待检测电源插件相关的历史运行参数确定所述待检测电源插件的预测运行参数，包括：

若退运设备数据库中存在与所述待检测电源插件同型号的电源插件，判断所述待检测电源插件的服役时间是否大于与所述退运数据库中与所述待检测电源插件同型号的电源插件的最长服役时间；

若是，根据所述第一历史运行参数和所述待检测电源插件的设定次实测运行参数确定所述预测运行参数，其中，所述设定次实测运行参数包括第m次实测运行参数至第n次实测运行参数，其中n≥m，其中第m次实测运行参数为超出所述同型号的电源插件的历史最长服役时间的第1次实测运行参数；

若否，根据所述第一历史运行参数确定所述预测运行参数。

2.根据权利要求1所述的电源插件健康状态检测方法，其特征在于，所述电源插件的运行参数包括串联等效电阻、串联等效电容和输出电压，其中，所述预测运行参数包括预测串联等效电阻、预测串联等效电容和预测输出电压；

对于任一预测运行参数，所述根据所述第一历史运行参数和所述待检测电源插件的设定次实测运行参数确定所述预测运行参数，包括：

根据所述退运设备数据库的第一历史运行参数形成的第一历史参数矩阵确定与所述退运设备数据库中与所述待检测电源插件同型号的电源插件的平均测量参数，所述平均测量参数组成平均测量参数向量；

根据所述设定次实测运行参数扩展所述平均测量参数向量；

基于Holt两指数平滑法，根据扩展后的所述平均测量参数向量确定所述预测运行参数。

3.根据权利要求1所述的电源插件健康状态检测方法，其特征在于，所述电源插件的运行参数包括串联等效电阻、串联等效电容和输出电压，其中，所述预测运行参数包括预测串联等效电阻、预测串联等效电容和预测输出电压；

对于任一预测运行参数，所述根据所述第一历史运行参数确定所述预测运行参数，包括：

根据所述退运设备数据库的第一历史运行参数形成的第一历史参数矩阵确定与所述退运设备数据库中与所述待检测电源插件同型号的电源插件的平均测量参数，所述平均测量参数组成平均测量参数向量；

根据所述待检测电源插件的服役时间确定所述平均测量参数向量中，与所述待检测电源插件服役时间最为接近的测量时间对应第一平均测量参数；

基于Holt两指数平滑法，根据所述第一平均测量参数和所述第一平均测量参数对应的测量时间点之前的平均测量参数确定所述预测运行参数。

4.根据权利要求1所述的电源插件健康状态检测方法，其特征在于，所述与所述待检测电源插件相关的历史运行参数包括第二历史运行参数，所述第二历史运行参数为在运数据库中，所述待检测电源插件的历次测量运行参数；

所述根据与所述待检测电源插件相关的历史运行参数确定所述待检测电源插件的预测运行参数，包括：

若退运设备数据库中不存在与所述待检测电源插件同型号的电源插件，根据所述第二历史运行参数确定所述预测运行参数。

5.根据权利要求4所述的电源插件健康状态检测方法，其特征在于，所述电源插件的运行参数包括串联等效电阻、串联等效电容和输出电压，其中，所述预测运行参数包括预测串联等效电阻、预测串联等效电容和预测输出电压；

对于任一预测运行参数，所述根据所述第二历史运行参数确定所述预测运行参数，包括：

基于Holt两指数平滑法，根据所述第二历史运行参数形成的第二历史运行参数向量确定所述预测运行参数。