[发明专利]多级转换器的时间有效偏移消除

权利要求书

1.一种消除耦合到多级模数转换器(ADC)电路的输入端的信号调节电路的偏移的方法，所述方法包括：

对模拟输入信号和所述偏移进行采样；

由所述ADC电路的第一级对采样的模拟输入信号和偏移执行第一转换；

消除所述偏移并且放大所述采样的模拟输入信号的残差；

由所述ADC电路的第二级对所述采样的模拟输入信号的所述残差执行第二转换；以及

生成代表所述采样的模拟输入信号的数字输出信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其中消除所述偏移包括：

短路所述信号调节电路的输入端以确定所述偏移；以及

从所述采样的模拟输入信号和偏移中减去所述偏移。

3.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第一级对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换包含：

由所述ADC电路的所述第一级使用逐次逼近寄存器(SAR)算法对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换。

4.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第一级对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换包含：

由所述ADC电路的所述第一级使用delta-sigma算法对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换。

5.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第一级对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换包含：

由所述ADC电路的所述第一级使用快闪转换器对所述采样的模拟输入信号和偏移执行所述第一转换。

6.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第二级对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换包含：

由所述ADC电路的所述第二级使用逐次逼近寄存器(SAR)算法对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换。

7.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第二级对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换包含：

由所述ADC电路的所述第二级使用delta-sigma算法对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换。

8.根据权利要求1所述的方法，其中由所述ADC电路的所述第二级对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换包含：

由所述ADC电路的所述第二级使用快闪转换器对所述采样的模拟输入的所述残差执行所述第二转换。

9.一种多级模数转换器(ADC)电路，所述多级模数转换器电路具有耦合到具有偏移的信号调节电路的输入端，所述ADC电路包括：

采样保持电路，所述采样保持电路配置为对模拟输入信号和所述偏移进行采样；

第一级，所述第一级包含第一ADC子电路，所述第一ADC子电路配置为对所述采样的模拟输入信号和偏移执行第一转换；

控制电路，所述控制电路配置为操作多个开关以生成所述第一转换的残差，并且从所述残差中消除所述信号调节电路偏移；

残差放大器，所述残差放大器配置为放大所述采样的模拟输入信号的所述残差；

第二级，所述第二级包含第二ADC子电路，所述第二ADC子电路配置为对所述采样的模拟输入信号的所述残差执行第二转换；以及

编码器电路，所述编码器电路配置为组合第一转换结果和第二转换结果，并且生成表示所述采样的模拟输入信号的数字输出信号。

10.根据权利要求9所述的电路，其中所述第一ADC子电路包含配置为执行逐次逼近寄存器(SAR)算法的SAR ADC。

11.根据权利要求9所述的电路，其中所述第一ADC子电路包含配置为执行delta-sigma算法的delta-sigma ADC。