[发明专利]一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法

说明书

本申请公开了一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括待标定样品；设置投射板面；样品标定；像素设置：光谱仪的各个探测器设定3‑5个像素位置，作为监控像素；设定位置校正参考光谱；比较剔除。本申请有益效果：通过全谱式直度光谱仪对样品表面进行激发且经探测器对相应光强数值分析，能够剔除处表面异常的样品，实现对样品表面平整度、洁净度及裂缝进行检测剔除的功能，达到微观检测的效果，便于剔除产品中的次品，通过将多个探测器与每一个所要检测的样品一一对应，能够成组的一次性进行检测剔除，同时将多个探测器与计算机进行连接，能够将获得的光强数值分布在屏幕上，且分布方式与样品放置方式一致，有利于直观地取出不合格的样品。

技术领域

本申请涉及一种异常光谱剔除方法，具体是一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法。

背景技术

全谱直读光谱仪可以广泛适用于铁基、铝基、铜基、镍基、锌基、钛基、钴基、镁基、锡基、铅基等金属样品的成分分析，采用现代先进的ccd数码技术，实现了分析光谱的全谱直读，特殊设计的激发光源，使金属材料的成份分析进入了一个新的时代，卓越的分析性能、极短的分析时间，极低的运行维护成本，智能化的操作模式，使样品分析简单易行。

部分全谱式直度光谱仪用于产品检测，产品表面一些检测项目是肉眼观察不到的，潜在的影响产品质量，同时产品数量较多，好次产品剔除困难程度大，不能够成组进行一次性检测剔除。因此，针对上述问题提出一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法。

发明内容

一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括以下步骤：

步骤一、待标定样品：将样品以不同表面标准分为3至4组，同时放置在相应待测环境空间内；

步骤二、设置投射板面：采用二维平面板安装在样品放置空间一侧作为光投射获取光点的载体；

步骤三、样品标定：利用光谱仪对样品表面进行激发，多次采集光谱，平均后作为当次分析的光谱，用于标定；

步骤四、像素设置：光谱仪的各个探测器设定3-5个像素位置，作为监控像素；

步骤五、设定位置校正参考光谱；

步骤六、比较剔除：根据计算机传输的激发参数和监控像素与光强，开始放电激发样品采集光谱，计算受控光强与监控光强相关系数与阈值比较，进行异常光谱剔除。

进一步地，所述步骤一中，样品以表面的平整度和洁净度进行分组，任选其中一种表面对样品进行分组。

进一步地，所述样品以表面的平整度为剔除测试标定，以三个或五个为一组将样品分成3组，三组样品相间放置在样品放置空间待测区域处，同时待测区域空间内为高纯度的氩气环境。

进一步地，所述步骤二中，光投射获取光点的载体区域一字相间分布有步骤四中的各个探测器所设的对应像素位置。

进一步地，所述监控像素对样品反射的光强值记录下来，组成一组向量，作为剔除异常光谱的监控光强向量，取基体元素谱线对应的像素位置，组成一组向量，作为监控像素向量。

进一步地，所述步骤三中依次对相间分布的三组样品逐个经光谱仪进行激发，每一个样品对应一个探测器所设定的像素位置。

进一步地，所述步骤四中探测器上用于显示光强值的显示器设置在外部空间，且每一个显示器上标记有校正参考光谱数值。

进一步地，所述步骤六中进行异常光谱剔除，仪器根据激发参数激发样品，分组火花个数为L，则每放电L次，采集一次数据，FPGA控制电路，将探测器接受的光电信号经由A/D转换后成为数字信号，并读入FPGA的内存中，得到一条光谱数据。