[发明专利]一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统在审

专利信息
申请号: 202011418118.8 申请日: 2020-12-07
公开(公告)号: CN112529799A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 刘国栋;胡流森;吴小龑;吴凌远 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 成都四合天行知识产权代理有限公司 51274 代理人: 周建;王记明
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 卷积 神经网络 结构 光学 畸变 校正 系统
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,包括探测相机、校正组件和FPGA卷积神经网络模型,所述探测相机为CDD相机,所述校正组件包括变形镜、凸透镜和半透半反镜;所述FPGA卷积神经网络模型包括卷积模块、非线性函数sigmoid模块、池化模块、中间量存储模块、全连接层模块,数据通过卷积模块和池化模块进行卷积运算和池化运算,各层之间通过非线性函数sigmoid模块实现激活连接。

2.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,FPGA卷积神经网络模型的网络结构分为9层,每层都包含依序连接的3个卷积模块、1个位加模块和1个卷积模块,每层的不同的模块之间通过池化或插值的方式进行连接。

3.如权利要求2所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,所述FPGA卷积神经网络模型的第1~4层为下采样层,第5层为桥接层,第6~9层为上采样层,上采样通过转置卷积实现,中间层经过一次上采样操作,尺寸扩大为前一层的一倍,同时控制其通道数减少一半;第1~5层通过最大池化连接,第6~9层通过上卷积连接,第1~4层和第6~9层通过残差一一对应连接,并将下采样过程中的部分中间层复制到上采样层中,参与上采样过程,第6~9层的输出经过一次卷积操作后,得到最终的输出图像。

4.如权利要求3所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,在最大池化和下采样过程中,每次从4个像素中确定一个最大的作为结果;在上采用过程中采用行缓冲的结构,通过相邻像素的计算得到所需的结果。

5.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,所述卷积模块由3个长度为28的行寄存器、3个长度为12的行寄存器和3×3的乘加阵列组成。

6.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,非线性函数sigmoid模块将自变量对应的sigmoid函数值预先存储在ROM或RAM中,其中自变量作为地址输入,函数值作为这个模块的输出,以实现sigmoid函数。

7.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,所述池化模块由2个长度为24的行寄存器、2个长度为8的行寄存器和2×2的乘加阵列组成。

8.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,中间量存储模块用来存储每个池化模块产生的结果,并在卷积模块连接状态变化之后,将暂存的中间结果重新读出,输入给变化后的卷积模块。

9.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,全连接层模块包括10个乘累加器,将数据与权重参数对应的输入全连接层模块,使用10个乘累加器,经过192个时钟周期后即可得到全连接层模块的输出结果。

10.如权利要求1所述的一种基于FPGA卷积神经网络结构的光学像差畸变校正系统,其特征在于,所述系统中输入图像的卷积计算采用3x3循环的并行计算结构,所述并行计算结构包含3个行缓冲,每个行缓冲后分别设有3个寄存器,当输入图像经1个行缓冲输入后,3个行缓冲预取3行的待处理数据,每个行缓冲后的3个寄存器对该行缓冲输出数据的前3个像素进行同时访问,将9个寄存器的输出结果合并;在数据处理过程中,3个行缓冲连续预取待处理数据,通过像素移位及合并9个寄存器的所有输出结果,即得到输入图像的卷积计算结果,并对输入图像的卷积计算结果进行数据重排。

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