[发明专利]抗蚀剂组合物及抗蚀剂图案形成方法在审
申请号: | 202011423839.8 | 申请日: | 2020-12-08 |
公开(公告)号: | CN112946998A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 平野智之;平山文武;野村架奈;河野绅一;中川裕介 | 申请(专利权)人: | 东京应化工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004;G03F7/038;G03F7/039 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 陈亦欧;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抗蚀剂 组合 图案 形成 方法 | ||
1.一种抗蚀剂组合物,是通过曝光产生酸、并且对显影液的溶解性因酸的作用而变化的抗蚀剂组合物,其特征在于,含有:
树脂成分(A1),具有包含极性因酸的作用而增大的酸分解性基团的结构单元(a1)与以下述通式(a10-1)表示的结构单元(a10);
增塑剂成分(Z),具有以下述通式(z1-1)表示的结构单元(z1),不含酸解离性基团,
所述增塑剂成分(Z)的含量相对于所述树脂成分(A1)100质量份为50质量份以下,
固体成分浓度为25质量%以上,
【化1】
式中,R为氢原子、碳数为1~5的烷基或碳数为1~5的卤代烷基,Yax1为单键或2价的连接基团,Wax1为可具有取代基的芳香族烃基,nax1为1以上的整数,
【化2】
式中,R为氢原子、碳数为1~5的烷基或碳数为1~5的卤代烷基,Vz0为单键或可含杂原子的2价烃基,其中,Vz0为可含杂原子的2价烃基的情况下,Vz0不含酸解离性基团,Rz0为氢原子或以下述通式(z1-r-1)表示的基团,
【化3】
式中,Rz01是可具有取代基的烃基,Rz02是氢原子或可具有取代基的烃基,Rz01与Rz02可以相互键合而形成环结构,其中,Rz01与Rz02不含酸解离性基团,*是键。
2.如权利要求1所述的抗蚀剂组合物,其特征在于,所述增塑剂成分(Z)的含量相对于所述树脂成分(A1)100质量份为1~30质量份。
3.一种抗蚀剂图案形成方法,其特征在于,具有:在支承体上使用权利要求1或2所述的抗蚀剂组合物形成抗蚀剂膜的工序;将所述抗蚀剂膜曝光的工序;及将所述曝光后的抗蚀剂膜显影而形成抗蚀剂图案的工序。
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