[发明专利]一种基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法及系统

权利要求书

1.一种基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法，其特征在于，包括：

根据集成电路的电磁响应仿真频段范围确定多个均匀分布的初始频率点；所述频段范围为用户预先设定的集成电路电磁响应仿真的频段范围；

利用粗颗粒并行方法计算初始频率点的电磁响应，以第一采样间隔及第二采样间隔分别对电磁响应进行采样，确定第一电磁响应序列以及第二电磁响应序列；所述第一采样间隔为第二采样间隔的l倍；

对所述第一电磁响应序列以及第二电磁响应序列进行插值处理，确定第一三次样条插值曲线以及第二三次样条插值曲线；

获取仿真曲线最大允许误差，并根据所述第一三次样条插值曲线和所述第二三次样条插值曲线确定第三三次样条插值曲线的采样步长，使得第三三次样条插值曲线的最大误差估计小于所述仿真曲线最大允许误差；

根据所述第三三次样条插值曲线的采样步长确定所述初始频率点之间新插入的频率点；

利用粗颗粒并行方法计算所有新插入的频率点的电磁响应，对所有频率点的电磁响应进行三次样条插值确定最终的集成电路电磁响应曲线。

2.根据权利要求1所述的基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法，其特征在于，所述获取仿真曲线最大允许误差，并根据所述第一三次样条插值曲线和所述第二三次样条插值曲线确定第三三次样条插值曲线的采样步长，使得第三三次样条插值曲线的最大误差估计小于所述仿真曲线最大允许误差，具体包括：

根据公式确定第三三次样条插值曲线的采样步长；其中，，N为仿真频段范围的最终采样点个数；为向上取整；E_max为仿真曲线最大允许误差；T₁(f)为第一三次样条插值曲线；T₂(f)为第二三次样条插值曲线；f为频率点；h₂为第二采样频率点的采样步长；h₃为第三三次样条插值曲线的采样步长；k为用第一三次样条插值曲线及第二三次样条插值曲线之间的差值代替电磁响应曲线真值的四阶导数的近似系数，k≥1，r为频率比阈值。

3.根据权利要求2所述的基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法，其特征在于，所述三次样条插值曲线的最大误差估计为：

式中为相邻离散频点的最大间距，在l≥2时，利用第一三次样条插值曲线及第二三次样条插值曲线之间的差值代替电磁响应曲线真值的四阶导数：

根据所述第一三次样条插值曲线和所述第二三次样条插值曲线确定第三三次样条插值曲线的采样步长，使得所述第三三次样条插值曲线的最大误差估计小于所述仿真曲线最大允许误差；所述采样步长满足；所述仿真曲线最大允许误差为：；其中，l为第一采样间隔与第二采样间隔的倍数；T(f)为第三三次样条插值曲线；T₁(f)为第一三次样条插值曲线；T₂(f)为第二三次样条插值曲线；F(f)为电磁响应曲线真值；F⁽⁴⁾(f)为电磁响应曲线真值的四阶导数；h₂为第二采样频率点采样步长；h₃为第三三次样条插值曲线的采样步长；k≥1为用第一三次样条插值曲线及第二三次样条插值曲线之间的差值代替电磁响应曲线真值的四阶导数的近似系数。