[发明专利]一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)由SCADA平台采集二次设备提供的光纤接口发送光强数据；

2)二次设备光强测量数据入历史库，给定时间间隔，分别计算光强的算数平均值和标准差；

3)使用最小二乘法对计算得到的所有平均值和标准差分别进行自适应回归分析，并根据SCADA监控后台实时给定的光强强度检修阈值和光强标准差检修阈值计算基于回归方程的建议检修时间，为设备状态检修提供依据。

2.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，基于现有SCADA平台和61850通讯协议采集二次设备提供的光纤接口光强数据。

3.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，按设定的采集周期t₀采集二次设备提供的光纤接口光强数据。

4.根据权利要求1所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤1)中，对采集到的二次设备提供的光纤接口光强数据按时序进行记录，得到光强数据的时序序列记录为

S_(x，t)：(x₁，t₁)，(x₂，t₂)，...，(x_i，t_i)，...，(x_n，t_n)。

5.根据权利要求4所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤2)中，对光强时序序列S_(x，t)按设定的计算间隔T₀计算光强的算数平均值和标准差

其中系数

得到光强均值时序序列：

和标准差时序序列：

S_(σ，T)：(σ₁，T₁)，(σ₂，T₂)，...，(σ_i，T_i)，...，(σ_n，T_n)，

为每个计算周期内光强平均值；

σ₁，σ₂，....，σ_n为每个计算周期内光强标准差；

T₁，T₂，....，T_n为每个采样周期。

6.根据权利要求5所述的基于二次设备光强趋势分析的状态检修方法，其特征在于，在步骤3)中，使用最小二乘法对光强均值时序序列和标准差时序序列S_(σ，T)分别进行自适应一元线性回归计算，得到光强均值回归方程x_T＝a_x+b_xT和光强标准差回归方程σ_T＝a_σ+b_σT，

其中a_x，b_x分别为光强均值线性回归的参数一与参数二，T为采样周期，a_σ，b_σ分别为标准差回归方程的参数一与参数二。