[发明专利]Sn镀覆材料及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202011428605.2 申请日: 2015-02-25
公开(公告)号: CN112593266A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 村田达则;小谷浩隆;远藤秀树;菅原章;园田悠太;加藤哲男;大住英树;豊泉隼 申请(专利权)人: 同和金属技术有限公司;矢崎总业株式会社
主分类号: C25D5/12 分类号: C25D5/12;C25D5/50;C25D3/12;C25D3/30;C25D3/38;H01R13/03
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张佳鑫;董庆
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: sn 镀覆 材料 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.Sn镀覆材料,它是在由铜或铜合金构成的基材的表面实施Sn镀覆后的Sn镀覆材料,其特征在于,基材的表面形成由Ni和Cu-Ni中的至少一方构成的基底层,该基底层的表面形成通过由大量的Cu-Sn类合金的结晶粒构成的Cu-Sn类合金层、和最外表面的位于相邻的Cu-Sn类合金的结晶粒间的凹部内的Sn层构成的最外层,最外表面中Sn层所占的面积率为20~80%,Sn层的最大厚度小于Cu-Sn类合金的结晶粒的平均粒径。

2.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Cu-Sn类合金层由Cu-Sn合金与Cu-Ni-Sn合金构成。

3.如权利要求2所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Cu-Sn合金由Cu6Sn5构成,所述Cu-Ni-Sn合金由(Cu,Ni)6Sn5构成。

4.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Cu-Sn类合金的结晶粒的平均粒径为1.5~3μm。

5.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Sn层的最大厚度为0.2~1.0μm。

6.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Sn层的平均厚度为0.05~0.4μm。

7.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述Cu-Sn类合金层的厚度为0.4~1.5μm。

8.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述基底层的厚度为0.05~0.5μm。

9.如权利要求1所述的Sn镀覆材料,其特征在于,所述最外表面的算术平均粗糙度Ra为0.05~0.2μm,最大高度Ry为0.3~1.5μm。

10.Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,对由铜或铜合金构成的基材的表面实施处理后,基材的表面依次形成Ni镀覆层、Cu镀覆层和Sn镀覆层,之后通过热处理形成通过由大量的Cu-Sn类合金的结晶粒构成的Cu-Sn类合金层、和最外表面的位于相邻的Cu-Sn类合金的结晶粒间的凹部内的Sn层构成的最外层,使最外表面中Sn层所占的面积率为20~80%,同时使Sn层的最大厚度小于Cu-Sn类合金的结晶粒的平均粒径。

11.如权利要求10所述的Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,通过对所述基材的表面进行处理,使基材的表面的算术平均粗糙度Ra为0.05~0.2μm、最大高度Ry为0.4~1.5μm、十点平均粗糙度Rz为0.15~1.0μm。

12.如权利要求10所述的Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,使所述Ni镀覆层的厚度为0.05~0.5μm、所述Cu镀覆层的厚度为0.1~0.7μm、所述Sn镀覆层的厚度为0.5~1.5μm。

13.如权利要求10所述的Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,使所述Sn镀覆层的厚度相对于所述Cu镀覆层的厚度的比为1.5~5,使所述Sn镀覆层的厚度相对于所述Cu镀覆层的厚度与所述Ni镀覆层的厚度之和的比为1~3.5。

14.如权利要求10所述的Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,设定温度和时间来实施所述热处理,以使300~800℃的温度范围内所述Cu-Sn类合金的结晶粒的平均粒径为1.5~3μm、所述Sn层的最大厚度为0.2~1.0μm。

15.如权利要求10所述的Sn镀覆材料的制造方法,其特征在于,设定温度和时间来实施所述热处理,以使300~800℃的温度范围内所述Sn层的平均厚度为0.05~0.4μm。

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