[发明专利]显示屏漏光值的获取方法、电子设备以及存储介质在审
申请号: | 202011428899.9 | 申请日: | 2020-12-09 |
公开(公告)号: | CN112599089A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 王智;李顺 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208;G09G3/36;G01J1/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;臧建明 |
地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示屏 漏光 获取 方法 电子设备 以及 存储 介质 | ||
本申请提供一种显示屏漏光值的获取方法、电子设备以及存储介质,显示屏包括检测区域,检测区域包括多个像素块,每个像素块包括多个像素,获取射入各个像素块的入射光的灰度值和各个像素块相对传感器的漏光权重值,根据各个像素块的入射光的灰度值、各个像素块的漏光权重值以及显示屏的特性关系,获得传感器检测的显示屏漏光值,其中,特性关系表示入射光的灰度值和漏光值的对应关系。本方案在计算显示屏的漏光值时,将各个区域的漏光权重值考虑在内,所计算得到显示屏的漏光值可以准确反应各个区域的漏光对传感器检测光强的影响。
技术领域
本申请电子设备技术领域,尤其涉及一种显示屏漏光值的获取方法、电子设备以及存储介质。
背景技术
随着智能手机向全面屏发展,也给智能手机的设计和制造引入很多亟待解决的问题。其中,如何使用位于屏幕下方传感器准确获得光信号强度也是其中一个问题。
在全面屏智能手机中,用于检测光信号的传感器通常位于显示屏下方,然而,该传感器在检测光信号时,显示屏通常处于显示状态,传感器同时也会检测到显示屏背面泄露出的光线,导致传感器所检测到光强不准确。
然而,现有技术没有公开如何在显示屏处于显示状态时获取显示屏的漏光强度,进而导致无法使用位于屏幕下方传感器获得准确光信号强度。
发明内容
本申请实施例提供显示屏漏光值的获取方法、电子设备以及存储介质,旨在准确获得显示屏漏光值,进而可实现使用位于屏幕下方传感器获得准确光信号强度。
第一方面,本申请实施例提供一种显示屏漏光值的获取方法,方法应用于电子设备,电子设备包括显示屏和位于显示屏下的传感器,包括:
获取射入各个像素块的入射光的灰度值和各个像素块相对传感器的漏光权重值;
根据各个像素块的入射光的灰度值、各个像素块相对传感器的漏光权重值以及显示屏的特性关系,获得传感器检测到的显示屏漏光值;
其中,显示屏包括检测区域,检测区域包括多个像素块,每个像素块包括多个像素,特性关系表示入射光的灰度值和漏光值的对应关系。
可选地,获取各个像素块相对传感器的漏光权重值,具体包括:
针对每个像素块,控制显示屏的其中一个像素块显示预设图像,并控制显示屏的其他像素块停止显示图像;
控制传感器检测显示预设图像的像素块的漏光检测值;
根据各个像素块的漏光检测值计算获得各个像素块相对传感器的漏光权重值。
可选地,预设图像包括白色图像、红色图像、蓝色图像或者绿色图像。
可选地,根据各个像素块的漏光检测值计算获得各个像素块相对传感器的漏光权重值,具体包括:
根据第一公式计算获得各个像素块相对传感器的漏光权重值,其中,第一公式包括:
其中,ωi表示第i个像素块的漏光权重值,DNi表示第i个像素块的漏光检测值,1≤i≤(m×n),m表示检测区域内每行像素块的个数,n表示检测区域内每列像素块的个数。
可选地,获取射入各个像素块的入射光的灰度值,具体包括:
根据显示数据获取入射光的红光分量的灰度值、入射光的蓝光分量的灰度值以及入射光的绿光分量的灰度值,
并对红光分量的灰度值、蓝光分量的灰度值以及绿光分量的灰度值进行伽马校正;或者
获取显示数据获得入射光的红光分量的灰度值、入射光的蓝光分量的灰度值以及入射光的绿光分量的灰度值;
其中,显示屏用于显示显示数据。
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