[发明专利]一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的计算方法有效

专利信息
申请号: 202011434660.2 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112697398B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 罗倩;李志炜;邵俊铭;吴时彬 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 空间 位置 变化 前后 两次 检测 波像差残差 计算方法
【权利要求书】:

1.一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,其特征在于:该方法按以下步骤实现:

步骤一,在被测镜上任意位置作三个标记,保证这三个标记中心位置可以连成三角形,并且在加工和检测中三个标记不会被清除;

步骤二,被测镜加工之前先检测一次被测镜的波像差,加工之后任意放置被测镜,再次检测被测镜的波像差;

步骤三,设备采集到的标记位置是没有数据的,分别找出三个标记上没有数据的区域,计算出其中心点的位置坐标,这三个点坐标为标记点位置;

步骤四,由于两次检测的波像差在空间位置上发生了变化,对这两次检测的波像差分析需要对其几何误差进行补偿,加工前后检测的波像差上的三个标记点连成的两个三角形的空间位置发生了三种几何变换:旋转、平移和缩放,解出三个标记点的变换矩阵T;

步骤五,按照步骤四计算的变换矩阵T,计算出加工后的波像差矩阵变换成跟加工前同样空间位置且同等大小的三维矩阵数据;

步骤六,将步骤五变换的波像差与加工前的波像差相减得到残差,分析这两次检测的波像差变化。

2.根据权利要求1所述的一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,其特征在于:步骤一中所述三个标记中心位置可以连成锐角或钝角三角形,为了容易区别,它们之间非旋转对称。

3.根据权利要求1所述的一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,其特征在于:步骤二中所述加工之后任意放置被测镜,被测镜在空间位置上相对于加工前可发生了旋转、平移,设备采样时,采样像素可变多或变少。

4.根据权利要求1所述的一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,其特征在于:步骤四具体过程为:

假设定义在(x,y,z)坐标系上的三角形f经过几何变换后产生了定义在(α,β,γ)坐标系上的三角形g,这个坐标系的变换可以表示为:

(α,β,γ)=T{(x,y,z)}

三角形的变换T包括三种:旋转、平移和缩放,其中旋转矩阵T1为:

其中,θ表示(α,β,γ)坐标系顺时针旋转θ得到(x,y,z)坐标系;

平移矩阵T2为:

其中,δx表示(α,β,γ)坐标系沿x轴平移δx得到(x,y,z)坐标系,δy表示(α,β,γ)坐标系沿y轴平移δy得到(x,y,z)坐标系;

缩放矩阵T3为:

其中,Sx表示(α,β,γ)坐标系的x轴缩放Sx得到(x,y,z)坐标系,δy表示(α,β,γ)坐标系的y轴缩放Sy得到(x,y,z)坐标系;

所以,变换矩阵T如下表示:

三个标记点的变换关系表示为:

其中,α,β,γ表示(α,β,γ)坐标系上三个标记点坐标,x,y,z表示(x,y,z)坐标系上三个标记点坐标;

由上式解出变换矩阵T。

5.根据权利要求1所述的一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,其特征在于:步骤五具体过程为:

假设加工前检测的波像差为固定矩阵,加工后检测的波像差为变化矩阵,按照计算出的三角形的变换矩阵T,计算出变化矩阵变换成跟固定矩阵处于同样空间位置且同等大小的三维矩阵数据,

其中,x′,y′,z′为(x,y,z)坐标系上三个标记点变换后的坐标,α′,β′,γ′为(α,β,γ)坐标系上三个标记点变换后的坐标,T为变换矩阵;

θ表示(α,β,γ)坐标系顺时针旋转θ得到(x,y,z)坐标系;

δx表示(α,β,γ)坐标系沿x轴平移δx得到(x,y,z)坐标系,δy表示(α,β,γ)坐标系沿y轴平移δy得到(x,y,z)坐标系;

Sx表示(α,β,γ)坐标系的x轴缩放Sx得到(x,y,z)坐标系,δy表示(α,β,γ)坐标系的y轴缩放Sy得到(x,y,z)坐标系。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011434660.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top