[发明专利]测试监控方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

说明书

本公开提供了测试监控方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品，可以应用于金融领域或其他领域。包括：在监听到测试行为的情况下，获取与测试行为对应的测试记录，测试记录包括第一参数集和测试时间集，第一参数信息集包括N个第一参数信息，第一参数信息为编写应用程序时所使用的且被测试的参数信息，测试时间集包括与第一参数信息对应的测试时间；获取编写完成应用程序后的提交记录，提交记录包括第二参数信息集和提交时间集，第二参数信息集包括M个第二参数信息；根据提交记录和测试记录确定第二参数信息集中的目标第二参数信息，目标第二参数信息包括在本地进行了测试的参数信息；根据目标第二参数信息确定针对应用程序的测试监控结果。

技术领域

本公开实施例涉及计算机技术领域，更具体地，涉及一种测试监控方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品。

背景技术

应用程序在上线前，通常都需要进行测试，以确保应用程序可以正常运行，该测试工作通常由开发人员和测试人员共同配合完成，其中，需要开发人员在提交编写完成的应用程序前对编写的应用程序进行测试，以尽量减少低级错误的发生，增强应用程序的健壮性和提高测试效率。

随着业务需求的不断发展，应用程序的迭代速度也随之加快。在上述情况下，如果业务需求较急迫，需要开发人员尽快完成，则可能导致开发人员将编写完成应用程序后直接提交而不执行提交前的测试，这可能会导致测试环境存在大量的低级错误，极大影响了应用程序的健壮性和测试效率。为了解决上述问题，相关技术中通常采用人为监控的方式。

在实现本公开构思的过程中，发明人发现相关技术中至少存在如下问题：采用相关技术较容易导致资源浪费且监控效果欠佳。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例提供了一种测试监控方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品。

本公开实施例的一个方面提供了一种测试监控方法，包括：在监听到测试行为的情况下，获取与上述测试行为对应的测试记录，其中，上述测试记录包括第一参数信息集和测试时间集，其中，上述第一参数信息集包括N个第一参数信息，上述第一参数信息为编写应用程序时所使用的且被测试的参数信息，上述测试时间集包括与上述第一参数信息对应的测试时间，上述N为正整数；获取编写完成上述应用程序后的提交记录，其中，上述提交记录包括第二参数信息集和提交时间集，其中，上述第二参数信息集包括M个第二参数信息，上述第二参数信息为编写完成上述应用程序实际使用的参数信息，上述提交时间集包括与上述第二参数信息对应的提交时间，其中，上述M为大于或等于上述N的正整数；根据上述提交记录和上述测试记录确定上述第二参数信息集中的目标第二参数信息，其中，上述目标第二参数信息包括在本地进行了测试的参数；以及，根据所述目标第二参数信息确定针对所述应用程序的测试监控结果。

根据本公开的实施例，上述根据上述提交记录和上述测试记录确定上述第二参数信息集中的目标第二参数信息，包括：针对上述第二参数信息集中的每个第二参数信息，确定上述测试记录中是否存在与上述第二参数信息一致的第一参数信息；在确定上述测试记录中存在与上述第二参数信息一致的第一参数信息的情况下，确定与上述第二参数信息对应的提交时间是否晚于与上述第一参数信息对应的测试时间；以及，在确定与上述第二参数信息对应的提交时间晚于与上述第一参数信息对应的测试时间的情况下，将上述第二参数信息确定为目标第二参数信息。

根据本公开的实施例，上述第一参数信息包括第一方法名和第一参数列表，上述第一方法名为编写应用程序时所使用的且被测试的方法的方法名；上述第二参数信息包括第二方法名和第二参数列表，上述第二方法名为编写完成上述应用程序实际使用的方法的方法名；在上述针对上述第二参数信息集中的每个第二参数信息，确定上述测试记录中是否存在与上述第二参数信息一致的第一参数信息之后，还包括：在确定上述测试记录中存在与上述第二方法名一致的第一方法名且与上述第二参数列表一致的第一参数列表的情况下，确定上述测试记录中存在与上述第二参数信息一致的第一参数信息。