[发明专利]相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法在审
申请号: | 202011439556.2 | 申请日: | 2020-12-10 |
公开(公告)号: | CN112945221A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | V·赛流陈科;A·奥特;K·莱格 | 申请(专利权)人: | 迈来芯科技有限公司 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00;G01C17/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 黄嵩泉;张鑫 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位角 校正 计算 装置 方法 | ||
本发明涉及相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法。一种相位角误差计算装置(100),包括:光源(102),该光源(102)根据间接飞行时间(iToF)测量技术发射射线。该光子混合器单元(104)生成并存储与多个预定相位偏移值相对应的多个电输出信号。信号处理电路根据iToF测量技术处理电输出信号,以便从中计算参考向量和参考相位角。输出信号与以第一精度水平进行的测量相对应。该电路根据iToF测量技术处理输出信号的子集,并据此计算测量向量和测量相位角。输出信号的子集与以低于第一精度水平的第二精度水平进行的测量相对应。该电路使用参考相位角和测量相位角计算相位角校正值。
技术领域
本发明涉及一种类型的相位角校正值计算装置,该类型的相位角校正值计算装置例如被配置为根据间接飞行时间测量技术来发射射线并处理所接收的反射光。本发明还涉及一种计算相位角校正值的方法,该方法是例如采用间接飞行时间测量技术的类型。
背景技术
在所谓的飞行时间感测系统和其他系统(例如游戏控制台视觉系统)中,已知采用照明源来照射在照明源的视场内的周围环境(有时被称为“场景”),并且处理由该场景的特征反射的射线。此类所谓的LiDAR(光检测和测距)系统使用照明源利用射线来照射场景,并且使用检测设备(例如光电二极管阵列、一些光学元件和处理单元)检测从场景中的对象反射的射线。从场景中的对象反射的射线由检测设备接收并且被转换成电信号,然后由处理单元通过应用飞行时间(ToF)计算来处理该电信号,以便确定该对象与该检测设备的距离。尽管已知不同种类的LiDAR系统基于不同的操作原理,但此类系统基本上是照射场景并检测反射光。
在这方面,作为直接ToF测距技术的所谓的“闪光LiDAR”技术采用一种光源,该光源发射随后被场景的特征反射并且被检测器设备检测的射线的脉冲。在此类技术中,直接使用射线的脉冲进行去往反射特征并且返回到检测器设备的往返行程的测得的时间来计算到反射特征的距离。在时域中以非常高的采样率对入射到检测器设备上的射线的脉冲进行采样。因此,实现此类技术的处理电路中的信号路径需要信号的高带宽以及大的硅“占地(real estate)”,即此类实现方式需要硅晶圆上相对大的面积,这进而限制了集成电路上可以支持的通道的数量。因此,此类闪光LiDAR传感器可以支持的通道的实际空间数量通常低于100。为了克服该限制,实现需要移动部件的机械扫描系统。
另一种已知的LiDAR系统采用所谓的“间接飞行时间”(iToF)测距技术。iTOF系统发射连续波光信号,并且该连续波光信号的反射被检测器设备接收并被分析。获取从场景的特征反射的射线的多个样本(例如四个样本),每个样本按例如90°进行相位步进。使用该照射和采样方法,可以确定照射和反射之间的相位角,并且所确定的相位角可以用于确定到场景的反射特征的距离。
在iToF系统中,高频信号处理(解调)发生在像素级,且因此在同一芯片上集成大量像素所需的像素后信号带宽较低。结果,与直接ToF系统相比,iToF系统可以支持更大量的通道,且因此支持更高的空间分辨率测量。然而,iToF系统具有有限的距离测量能力。在这方面,为了实现低随机距离测量误差,iToF系统需要高调制频率,这进而又降低了可以明确测量的距离范围。例如,100MHz调制频率导致1.5m的近似明确测量范围。此外,传统的iToF系统容易受到由于多次反射和多个传播路径引起的误差的影响。
如上文所解释,iToF系统关于不同的施加相位进行采样。典型的iToF系统包括缓冲器,该缓冲器存储由所谓的光子混合器设备生成的关于用于后续的信号处理的m个相位的模拟信号。离散傅里叶变换单元依据信号的同相分量和正交分量来计算由缓冲器存储的复信号的基频。使用同相分量和正交分量的值,可以计算复信号的相位角和振幅,并且可以使用相位角信息求解到对象的距离。
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