[发明专利]测试方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202011439792.4 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112540920A 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 宁赋宣;胡烨晗;周星;刘冰 申请(专利权)人: 中信银行股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市兰台律师事务所 11354 代理人: 张峰
地址: 100020 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种测试方法、装置、设备和存储介质,涉及测试技术领域。该方法包括:从数据源中读取至少两个测试场景参数组,并基于至少一个场景生成逻辑,根据读取的至少两个测试场景参数组,生成至少两个测试场景数据;根据所述至少两个测试场景数据,生成至少两个测试场景的模拟对象;将所述至少两个测试场景的模拟对象输入待测试逻辑中;根据所述待测试逻辑的输出结果,确定所述待测试逻辑的测试结果。本发明实施例提供一种测试方法、装置、设备和存储介质,实现了基于单个场景生成逻辑对多个测试场景的模拟对象的模拟。

技术领域

本发明实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

JMockit是一款Java类/接口/对象的模拟工具。目前广泛应用于Java应用程序的单元测试中,可以对方法或者模块调用的外围接口进行模拟,实现单元测试过程中与外围系统的完全解耦。

虽然JMockit能够对调用的外围接口进行模拟,但是每次只能模拟一种返回场景。为了提高单元测试覆盖率,测试外围接口的多个返回场景,需要编写多单元测试代码,增加了工作压力。

发明内容

本发明实施例提供一种测试方法、装置、设备和存储介质,以实现基于单个场景生成逻辑对多个测试场景的模拟对象的模拟。

第一方面,本发明实施例提供了一种测试方法,该方法包括:

从数据源中读取至少两个测试场景参数组,并基于至少一个场景生成逻辑,根据读取的至少两个测试场景参数组,生成至少两个测试场景数据;

根据所述至少两个测试场景数据,生成至少两个测试场景的模拟对象;

将所述至少两个测试场景的模拟对象输入待测试逻辑中;

根据所述待测试逻辑的输出结果,确定所述待测试逻辑的测试结果。

第二方面,本发明实施例还提供了一种测试装置,该装置包括:

场景数据生成模块,用于从数据源中读取至少两个测试场景参数组,并基于至少一个场景生成逻辑,根据读取的至少两个测试场景参数组,生成至少两个测试场景数据;

模拟对象生成模块,用于根据所述至少两个测试场景数据,生成至少两个测试场景的模拟对象;

模拟对象输入模块,用于将所述至少两个测试场景的模拟对象输入待测试逻辑中;

测试结果生成模块,用于根据所述待测试逻辑的输出结果,确定所述待测试逻辑的测试结果。

第三方面,本发明实施例还提供了一种设备,所述设备包括:

一个或多个处理器;

存储装置,用于存储一个或多个程序,

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如本发明实施例中任一所述的测试方法。

第四方面,本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如本发明实施例中任一所述的测试方法。

本发明实施例通过从数据源中读取至少两个测试场景参数组,并基于至少一个场景生成逻辑,根据读取的至少两个测试场景参数组,生成至少两个测试场景数据;根据所述至少两个测试场景数据,生成至少两个测试场景的模拟对象,从而实现根据针对一个待测试逻辑,只需要编写一次场景生成逻辑,至少两个测试用例配置,即可实现多逻辑分支、多接口返回的复杂测试场景,进而提高测试覆盖率。

此外,对于基于接口编程的设计,本发明实施例的技术方案可以对所有继承自统一接口的类中的方法进行测试,即编写一个场景生成逻辑可以测试一组待测试逻辑,实现场景生成逻辑和待测试逻辑一比多的代码量,极大减轻测试工作量。

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