[发明专利]一种试卷OMR识别和计算方法在审
申请号: | 202011443541.3 | 申请日: | 2020-12-08 |
公开(公告)号: | CN112507878A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 吴锦青;李华平 | 申请(专利权)人: | 育林汇软件有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/62 |
代理公司: | 北京圣州专利代理事务所(普通合伙) 11818 | 代理人: | 王振佳 |
地址: | 510000 广东省广州市天河区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 试卷 omr 识别 计算方法 | ||
本发明涉及试卷OMR识别和计算方法技术领域,具体地说,涉及一种试卷OMR识别和计算方法,试卷OMR识别方法包括如下步骤:生成OMR卡,将OMR卡输入成图像,将图像在该方向压缩得到投影,确定图像偏转角度,对图像作相应的选择,完成OMR卡的方向校正,找到横向坐标和纵向坐标,得到每个选项的中心位置坐标,读取卡中的信息,结合中心位置坐标确定每个小条的位置,确定该条是否有涂过的小块,识别考生所作选择,试卷OMR计算方法包括如下步骤:定义组合码和评分标准,连续读取考生OMR卡信息,将读取的结果与标准答案相对比,给出分数,本发明可以高效准确的卡片信息解读,且具有倾斜矫正功能,可在自动检测的基础上进行校正,可以有效的避免偏移误识。
技术领域
本发明涉及试卷技术领域,具体地说,涉及一种试卷OMR识别和计算方法。
背景技术
为了适应教育规模的快速发展,各种计算机辅助测试(CAA)技术被普遍采用,以满足几益增长的需求,其中光电阅读器OMR是利用光电转换的原理检测涂写标记位置的一种自动化装置,目前OMR技术日益成熟,标准化考试的机器阅卷是OMR技术具体应用之一,它将若干个红外光电管按答题卡信息点的物理尺寸进行装配,组成阅卷系统光电传感器,对信息点的涂写位置进行检测,输出与涂写信息有关的模拟电压,经A/D转换成数字信号后用计算机处理检测结果;
但是目前的试卷OMR识别和计算方法,硬件组成部件复杂,因而成本高,价格昂,其应用普及受到一定的限制,并且走纸质量依赖性大,对有倾斜的走纸容易产生误识。
发明内容
本发明的目的在于提供一种试卷OMR识别和计算方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种试卷OMR识别方法,包括试卷OMR识别方法包括如下步骤:
S1.1、根据试卷的具体内容,生成OMR卡;
S1.2、将OMR卡输入成图像,然后转换图像格式,将彩色图像转换为灰度图像,然后进行灰度拉伸以增强图像反差,去除图像周围无用边缘,提高算法效率;
S1.3、采用人脸识别中定位面部器官常用的投影方法,沿某个方向将图像各行或各列的像素灰度相加来,将图像在该方向压缩得到投影;
S1.4、运用投影曲线的标准差为判断依据,确定图像偏转角度,对图像作相应的选择,完成OMR卡的方向校正;
S1.5、找到横向坐标和纵向坐标,得到每个选项的中心位置坐标;
S1.6、读取卡中的信息,结合中心位置坐标确定每个小条的位置,确定该条是否有涂过的小块,识别考生所作选择。
作为本技术方案的进一步改进,所述S1.1中的具体内容包括试卷的数量、题型和分值。
作为本技术方案的进一步改进,所述S1.2中OMR卡包括定位标记和选项涂划区,定位标记包括定位小块和定位直线,选项涂划区包括许多供旋转的矩形小块,定位标记用作卡片整体方向和选项定位的依据,选项涂划区对卡中信息的读取就是正确判断特定位置的选项是否进行了涂划。
作为本技术方案的进一步改进,所述S1.3中的纵向投影计算公式为:
其中,I(x,y)为原始图像,V为在[x1,x2]×[y1,y2]范围之内的纵向投影。
作为本技术方案的进一步改进,所述S1.3中的横向投影计算公式为:
其中,I(x,y)为原始图像,H为在[x1,x2]×[y1,y2]范围之内的横向投影。
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