[发明专利]磨料粒径检测方法在审
申请号: | 202011444458.8 | 申请日: | 2020-12-08 |
公开(公告)号: | CN112730169A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 李望兵;龚丽勤;王少杰;吴泰纬;陈正士 | 申请(专利权)人: | 深圳市裕展精密科技有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N1/44 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 龚慧惠 |
地址: | 518109 广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磨料 粒径 检测 方法 | ||
本申请公开了一种磨料粒径检测方法,包括以下步骤:将磨料层在第一温度下煅烧得到第一煅烧物,称取所述第一煅烧物的质量为第一质量;将所述第一煅烧物在第二温度下煅烧得到第二煅烧物,称取所述第二煅烧物的质量为第二质量,所述第二质量等于所述第一质量;对所述第二煅烧物进行粒径测量。上述的方法通过将磨料层煅烧至第一煅烧物和第二煅烧物的质量相等后,对所述第二煅烧物进行粒径测量,操作简单,磨料层完全分解后再进行测量,测量结果较为精准。
技术领域
本申请涉及检测领域,具体涉及一种磨料粒径检测方法。
背景技术
目前,市场上一般使用磨砂纸对产品进行抛光处理。磨砂纸通常是在基材上胶着各种研磨砂粒而成。随着生产水平的不断提高,对砂纸的需求也更加广泛,为了保持砂纸的稳定性,需对砂纸进行检测。
现有技术中一般采用外观检查、尺寸检验和性能测试,其中对砂纸磨料粒径的测试较少。一般测试颗粒粒径,都是采用SEM测量较多,但是SEM只能测量部分颗粒的粒径,误差较大。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提出一种磨料粒径检测方法,以解决上述问题。
本申请实施例提供了一种磨料粒径检测方法,包括以下步骤:
将磨料层在第一温度下煅烧得到第一煅烧物,称取所述第一煅烧物的质量为第一质量;
将所述第一煅烧物在第二温度下煅烧得到第二煅烧物,称取所述第二煅烧物的质量为第二质量,所述第二质量等于所述第一质量;
对所述第二煅烧物进行粒径测量。
在一些实施例中,其中所述方法进一步包括:
将所述第二煅烧物置于液体中,对所述液体中的所述第二煅烧物进行粒径测量。
在一些实施例中,其中所述粒径测量步骤包括:
通过颗粒衍射或者散射的方式对所述第二煅烧物进行粒径测量。
在一些实施例中,其中所述粒径测量步骤包括:
将所述第二煅烧物置于液体中,并在所述液体中添加分散剂,然后对所述液体中的所述第二煅烧物进行粒径测量。
在一些实施例中,所述分散剂的浓度范围为0.05g/L-10g/L。
在一些实施例中,其中所述分散剂包括十二烷基季铵盐、聚乙烯吡咯烷酮、聚乙烯醇、聚甲基乙烯基醚中的至少一种。
在一些实施例中,其中所述将所述第一煅烧物在第二温度下煅烧得到第二煅烧物之前,所述方法还包括:
在第三温度下煅烧得到第三煅烧物,称取所述第三煅烧物的质量为第三质量,第三质量与第一质量不相等。
在一些实施例中,其中所述第一温度的范围为500℃-800℃,所述第一煅烧物的煅烧时间范围1h-10h。
在一些实施例中,其中所述第二温度的范围为600℃-1200℃,所述第二煅烧物的煅烧时间范围1h-10h。
在一些实施例中,其中将磨料层在第一温度下煅烧得到第一煅烧物,称取所述第一煅烧物的质量为第一质量的步骤包括:
将所述第一煅烧物冷却至室温,再称取所述第一煅烧物的质量;
将所述第一煅烧物在第二温度下煅烧得到第二煅烧物,称取所述第二煅烧物的质量为第二质量的步骤包括:
将所述第二煅烧物冷却至室温,再称取所述第二煅烧物的质量。
上述的方法通过将磨料层煅烧至第一煅烧物和第二煅烧物的质量相等后,对所述第二煅烧物进行粒径测量。相对于现有技术,本申请的方法操作简单,磨料层完全分解后再进行测量,测量结果较为精准。
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