[发明专利]一种并发系统的内部性能评估方法和系统

说明书

本发明公开了一种并发系统的内部性能评估方法和系统，方法包括：向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个状态位置生成相对应的状态标识；基于并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；响应于基于总采样数运行内部性能代码，而在每个状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；基于每个状态位置的消耗时间周期、本地采样数、和内部性能代码的运行频率确定每个状态位置的消耗时间；基于消耗时间评估每个状态位置的内部性能。本发明能够快速确定并发系统的性能瓶颈以执行针对性优化。

技术领域

本发明涉及性能评估领域，更具体地，特别是指一种并发系统的内部性能评估方法和系统。

背景技术

在SSD(固态硬盘)读写的开发过程中，性能是关注焦点。现有很多测试性能的工具，但只能测试出SSD的整体读写性能，无法知道SSD内部各个模块的运行时间，这就使开发人员无法知道代码哪个模块比较耗性能，无法进行针对性的优化。

针对现有技术中并发系统内部性能难以评估的问题，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种并发系统的内部性能评估方法和系统，能够快速确定并发系统的性能瓶颈以执行针对性优化。

基于上述目的，本发明实施例的第一方面提供了一种并发系统的内部性能评估方法，包括执行以下步骤：

向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个状态位置生成相对应的状态标识；

基于并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；

响应于基于总采样数运行内部性能代码，而在每个状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；

基于每个状态位置的消耗时间周期、本地采样数、和内部性能代码的运行频率确定每个状态位置的消耗时间；

基于消耗时间评估每个状态位置的内部性能。

在一些实施方式中，每个状态标识是唯一的并且彼此不同。

在一些实施方式中，基于并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数包括：

基于并发系统的内存储器容量确定上下文位置索引的最大值；

基于内部性能评估的精度需求确定上下文位置索引的最小值；

基于上下文位置索引的最大值和最小值确定总采样数。

在一些实施方式中，响应于基于总采样数运行内部性能代码，而在每个状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数包括：

将从当前采样开始到状态位置的消耗时间周期记为当前时间周期；

将总采样数中的所有当前时间周期叠加获得消耗时间周期；

将总采样数中经历状态位置的次数作为本地采样数。

在一些实施方式中，基于每个状态位置的消耗时间周期、本地采样数、和内部性能代码的运行频率确定每个状态位置的消耗时间包括：

基于状态位置的消耗时间周期与前一状态位置的消耗时间周期之差确定状态位置的差分消耗时间周期；

基于差分消耗时间周期与本地采样数之商确定平均消耗时间周期；

基于平均消耗时间周期与运行频率之商确定状态位置的消耗时间。

在一些实施方式中，内部性能代码的运行频率为并发系统的处理器工作频率；并发系统为固态硬盘存储器。

在一些实施方式中，方法还包括：在评估每个状态位置的内部性能后，还定位内部性能低于阈值的状态位置以重新执行优化。