[发明专利]散斑的追踪方法、测距模组、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种散斑的追踪方法，其特征在于，

获取测距模组的光投射器的当前温度，所述光投射器包括光源阵列，所述光源阵列包括多个光源；

获取预设的参考散斑图及预设的温度-位置模型，所述温度-位置模型反应所述光投射器在不同温度下投射形成的各散斑图与参考散斑图中由同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；

根据所述当前温度、所述温度-位置模型、所述参考散斑图中的各斑点的第一位置获取各斑点的第二位置；

根据所述第二位置追踪所述测距模组的光接收器的像素阵列上接收的各斑点的第三位置；

保持所述第三位置的所述像素开启；及

关闭所述第三位置之外的所述像素。

2.根据权利要求1所述的追踪方法，其特征在于，还包括：

在不同检测温度下，拍摄所述光投射器朝标定模板投射的样本散斑以获取多个样本散斑图；

比较每个所述样本散斑图与所述参考散斑图中同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；及

根据所述位置偏移量及对应的所述检测温度建立所述光源阵列投射形成的各斑点的所述温度-位置模型。

3.根据权利要求1所述的追踪方法，其特征在于，所述根据所述当前温度、所述温度-位置模型、所述参考散斑图中的各斑点的第一位置获取各斑点的第二位置，包括：

获取参考散斑图中的各斑点的第一位置；

根据所述当前温度及所述温度-位置模型获取参考散斑图中由同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；及

根据所述第一位置及所述位置偏移量获取所述第二位置。

4.根据权利要求1所述的追踪方法，其特征在于，所述像素阵列包括多个像素，所述根据所述第二位置追踪光接收器的像素阵列上接收的各斑点的第三位置，包括：

在所述像素阵列中选取与所述第二位置对应的检测区域；

开启所述检测区域内的像素以检测所述斑点；及

根据检测到所述斑点的所述像素的位置获取所述第三位置。

5.一种测距模组，其特征在于，包括光投射器、光接收器、及处理器，所述光投射器包括光源阵列，所述光源阵列包括多个光源，所述处理器用于：

获取光投射器的当前温度；

获取预设的参考散斑图及预设的温度-位置模型，所述温度-位置模型反应所述光投射器在不同温度下投射形成的各散斑图与参考散斑图中由同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；

根据所述当前温度、所述温度-位置模型、所述参考散斑图中的各斑点的第一位置获取各斑点的第二位置；

根据所述第二位置追踪光接收器的像素阵列上接收的各斑点的第三位置；

保持所述第三位置的所述像素开启；及

关闭所述第三位置之外的所述像素。

6.根据权利要求5所述的测距模组，其特征在于，所述光接收器用于：

在不同检测温度下，拍摄所述光投射器朝标定模板投射的样本散斑以获取多个样本散斑图；

所述处理器还用于：

比较每个所述样本散斑图与所述参考散斑图中同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；及

根据所述位置偏移量及对应的所述检测温度建立所述光源阵列投射形成的各斑点的所述温度-位置模型。

7.根据权利要求5所述的测距模组，其特征在于，所述处理器还用于：

获取参考散斑图中的各斑点的第一位置；

根据所述当前温度及所述温度-位置模型获取参考散斑图中由同一光源投射形成的斑点的位置偏移量；及

根据所述第一位置及所述位置偏移量获取所述第二位置。

8.根据权利要求5所述的测距模组，其特征在于，所述处理器还用于：

在所述像素阵列中选取与所述第二位置对应的检测区域；

开启所述检测区域内的像素以检测所述斑点；及

根据检测到所述斑点的所述像素的位置获取所述第三位置。