[发明专利]一种大规模复杂版图电阻提取加速方法有效
申请号: | 202011447712.X | 申请日: | 2020-12-09 |
公开(公告)号: | CN112560386B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 童振霄;刘伟平;李相启;陆涛涛 | 申请(专利权)人: | 南京华大九天科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王金双 |
地址: | 211800 江苏省南京市中国(江苏)自由*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大规模 复杂 版图 电阻 提取 加速 方法 | ||
一种大规模复杂版图电阻提取加速方法,包括以下步骤:将复杂图形切分为多个简单子图形;将所述简单子图形数据存入快速图形查询数据结构;匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形;计算所有端口到端口的寄生电阻。本发明的大规模复杂版图电阻提取加速方法,可以将一个复杂图形切分为多个简单子图形,每个端口图形(或阻挡图形)可以快速查询到有连接关系的子图形,与简单子图形做图形几何运算效率很高,可以快速找到端口图形与电阻图形的匹配关系,大大缩短了电阻提取时间,提高了效率,也保证了端口与电阻图形的匹配正确性,确保了端口到端口寄生电阻提取准确性。
技术领域
本发明涉及半导体集成电路自动化设计技术领域,尤其涉及半导体电路后仿真以及版图寄生电阻提取技术。
背景技术
集成电路设计和显示面板设计中,需要对所设计的电路进行电学(或光学)仿真,用以判断电路设计是否达标。在电路仿真时,需要考虑半导体工艺中寄生效应对电路时序的影响,通常需要对集成电路版图提取寄生电阻,添加到仿真电路网表中进行时序的验证。EDA软件中寄生电阻提取需要对输入版图进行处理,得到所需提取电阻端口到端口的实际二维图形以及端口图形(或阻挡图形)的属性。在提取寄生电阻的时候,需要匹配提取图形以及对应的端口图形(或阻挡图形),随着集成电路规模的不断增大,版图图形也越来越复杂,对应端口图形(或阻挡图形)的数目也越来越多,匹配图形的时间已经明显影响到电阻提取的时间效率。
在复杂集成电路寄生电阻提取中,如果提取的信号线版图图形很复杂(例如功率电路中的电源信号线图形,平板显示电路中的电流通路信号线图形),根据网表电阻端口节点信息进行版图切割后,对应电阻图形以及端口图形(或阻挡图形)匹配效率较低,会造成可观的时间开销,再加上利用有限元等方法计算端口到端口电阻的时间,整体寄生电阻提取时间过长。
如果不对大规模复杂图形进行切分,则需要用复杂图形查询所有端口图形(或阻挡图形),并与查询到有连接可能的端口图形(或阻挡图形)做图形相交运算,由于复杂图形顶点数目庞大,做图形几何运算效率很低,造成图形匹配时间较长。
发明内容
为了解决现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种大规模复杂版图电阻提取加速方法,可以将一个复杂图形切分为多个简单子图形,每个端口图形(或阻挡图形)可以快速查询到有连接关系的子图形,与简单子图形做图形几何运算,快速找到端口图形与电阻图形的匹配关系。
为实现上述目的,本发明提供的大规模复杂版图电阻提取加速方法,包括以下步骤:
将复杂图形切分为多个简单子图形;
将所述简单子图形数据存入快速图形查询数据结构;
匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形;
计算所有端口到端口的寄生电阻。
进一步地,所述将复杂图形切分为多个简单子图形的步骤,还包括,
根据复杂图形顶点数,计算出单位小图形顶点数目阈值;
将复杂图形切分为多个顶点数为单位小图形顶点数目阈值的简单子图形。
进一步地,所述将所述简单子图形数据存入快速查询数据结构的步骤,还包括,
将切分后的简单子图形数据存入到快速图形查询数据结构中;
将快速图形查询数据结构与对应的复杂图形相关联。
进一步地,所述快速图形查询数据结构为查找树。
进一步地,所述匹配所有所述简单子图形关联的复杂图形与对应端口图形的步骤,还包括,
所有端口图形或阻挡图形在复杂图形对应的快速图形查询数据结构中进行查找,查询到有图形连接关系的对应简单子图形;
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