[发明专利]浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺

权利要求书

1.一种浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，包括：

S1、准备测试用水，所述测试用水的水质浑浊度可由第1等级、第2等级、…至第n等级逐级调节，所述第2等级的测试用水比所述第1等级的测试用水更浑浊，所述第1等级、所述第2等级、…及所述第n等级下的所述测试用水的水质浑浊度均可设定，n为大于1的正整数；

S2、测试水下电连接器在所述测试用水的水质浑浊度为所述第1等级下的电气性能；

S3、判断所述电气性能是否合格，若合格，则跳转至S4；

S4、依次将所述水下电连接器在所述测试用水的水质浑浊度为所述第1等级、第2等级、…及第m等级下插拔设定次数，直至所述水下电连接器失效，1≤m≤n，且m为正整数。

2.根据权利要求1所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，通过调节所述测试用水的盐度、pH度、悬浮颗粒浓度及压力，以调节所述测试用水的水质浑浊度的等级。

3.根据权利要求1所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，在步骤S2中，所述电气性能包括绝缘电阻、交流耐压和直流漏泄。

4.根据权利要求3所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，在步骤S2中，所述绝缘电阻的测试进行两次，在所述交流耐压和所述直流漏泄两者测试的前后分别进行一次绝缘电阻的测试。

5.根据权利要求4所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，所述电气性能还包括直流导通阻抗。

6.根据权利要求5所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，在所述测试用水的水质浑浊度为所述第1等级下，测量所述水下电连接器的直流导通阻抗。

7.根据权利要求6所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，所述直流导通阻抗的测量在第一次绝缘电阻的测量之前进行，或所述直流导通阻抗的测量在第二次绝缘电阻的测量之后进行。

8.根据权利要求1所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，在步骤S4中，将所述水下电连接器在每一等级的水质浑浊度下插拔所述设定次数后，测试所述水下电连接器的绝缘电阻，测得的绝缘电阻不合格时，所述水下电连接器失效。

9.根据权利要求1所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，所述设定次数大于等于2。

10.根据权利要求1-9任一项所述的浑浊水质下水下电连接器性能测试工艺，其特征在于，所述第1等级、所述第2等级、…及所述第n等级下的所述测试用水的水质浑浊度根据所述水下电连接器的待服役水环境的水质进行设定。