[发明专利]一种22层低损耗的PCB制作方法在审
申请号: | 202011450608.6 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112533383A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 吴柳松;张军杰;张锋;张国成 | 申请(专利权)人: | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 |
主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00 |
代理公司: | 广东创合知识产权代理有限公司 44690 | 代理人: | 潘丽君 |
地址: | 516211 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 22 损耗 pcb 制作方法 | ||
本发明提供一种22层低损耗的PCB制作方法,在原有加工基础上进行改进,将钻孔分为两次生产作业,第一次钻需要塞树脂的通孔和控深孔,生产完转树脂塞孔再CAPPING电镀。第二次钻非树脂塞的孔,后续板电,外层图电生产。有效避免所有通孔和控深孔钻经过3次镀铜的工序,确保镀铜品质和产品阻抗和损耗的合格率提升。
技术领域
本发明涉及电路板生产技术领域,尤其是涉及一种22层低损耗的PCB制作方法。
背景技术
多层PCB的阻抗和LOSS(损耗/插损)是对高速信号的传输至关重要,也是信号的传输速率和不失真度重要因素。因而,高端的服务器主板类型的PCB对阻抗和LOSS要求项目越来越多,控制等级越来越严格。而PCB的阻抗和LOSS在制造中难度加大,制作完成品其值很容易超标准,不能满足客户要求。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的在于提供一种22层低损耗的PCB制作方法,通过对不同线宽,不同介质厚度,不同介电常数变化,线路层棕化,线路补偿等影响因素研究,分析影响PCB阻抗和插损的主要因素和阻抗影响不同程度,为PCB高精度阻抗设计提供最佳建议方案。
具体的,本发明所述的一种22层低损耗的PCB制作方法,包括以下步骤:
步骤1:进行第一次钻孔前工序;
步骤2:进行第一次钻孔,孔精度的CPK>1.33;经第一次图电后,进行第二次钻孔;
步骤3:进行第一次板电,继续依次进行:树脂塞孔,CAPPING电镀,第一次外层,减铜,和研磨后,进行第三次钻孔;
步骤4:依次进行第二次板电,第二次外层,第二次图电,及后序工序。
其中,所述第一次钻孔前工序还包括:
开料:根据客定需求进行基板材料裁切,或选用PNL小尺寸基板在烘烤后转下工序制作,烘烤条件设置:温度为190℃,时间为4H;
内层:加工时采用用LDI专用油墨,膜厚控制范围为11±2um, 曝光采用大族LDI,线宽管控层别:L3,L5,L7,L9,L14,L16,L18,和L20;成品线宽设置为3.5 mil,成品线距设置为4 mil;同条线路上中下线宽控制在0.1 mil以内;蚀刻1/1OZ,参数设置为5.3M/MIN;蚀刻2/2OZ,参数设置为3.5M/MIN。
内检:修残铜,不做补线;
压合:在棕化前PE冲孔冲7颗孔,除L形3孔以外,以中心钻孔方式冲出外围4颗孔,靶距为X1= 399.397mm ,X2=404.397mm ,Y= 583.238mm;棕化按5m/min线速,高速材料棕化站烘板,烘板条件设置为 120℃*60分钟;棕化后管控12小时以内熔合铆合完,首板检验层偏合格后量产全检层偏,PP张数,和内层Core的正确率是否为100%;压合使用专用M6程作业;
镭射盲孔;L13/L12层镭射盲孔,生产首件测量孔宽度及深度均合格后量产。
所述第一次钻孔后还包括检测通孔及压接孔孔径是否堵孔。并测量孔精度的CPK>1.33;
所述第二次钻孔为图电后转钻孔进行机械背钻,分别第一和第四象限,钻出不同深度。第一象限是从第一层,分别钻到L4/6/8/13/15/17/19,不可钻穿对应的次层L5/7/9/14/16/18/20。其深度分别为0.36mm,0.65mm,0.94mm,1.71mm,1.9mm,2.29mm,2.58mm.其Stub值皆为7+/-5mil制作首件板切片分析背钻孔深度值,符合要求后量产;第四象限是从第22层,分别钻到L19/17/15/10/8/6/4,不可钻穿对应的次层L18/16/14/7/5/3。其深度分别为0.36mm,0.65mm,0.94mm,1.71mm,1.9mm,2.29mm,2.58mm, 背钻完高压水洗,水洗压力参数为2.5kg/cm²,水洗后检查, 确保背钻无堵孔。
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