[发明专利]一种用于X射线残余应力测试的样品夹具

说明书

本发明属于夹具领域，具体涉及一种用于X射线残余应力测试的样品夹具。包括基座，转轴和样品台；样品台通过两侧的转轴与基座连接，且通过转动转轴实现样品台与水平面夹角的可调；样品台中部设有矩形沉槽，矩形沉槽的一个侧面设有伸缩弹簧，与设有伸缩弹簧的侧面相对的侧面设有螺杆，通过螺杆和伸缩弹簧实现样品的夹持。本发明的X射线残余应力测试夹具可以对试样进行稳固且精确的X射线检测操作，测试夹具简单、操作灵活方便，可以最大程度地提高试样的夹持精度且减少对X射线检测造成的干扰。

技术领域

本发明属于夹具领域，具体涉及一种用于X射线残余应力测试的样品夹具。

背景技术

X射线衍射技术在物理、化学、材料、生物等多个领域都得到广泛应用。目前，材料学中常用的分析测试方法是利用X射线晶体学的物相分析和应力测试手段。X射线残余应力测试方法是一种重要的无损应力测试方法。其测试原理是由一定的应力状态引起材料的晶格应变和宏观应变是一致的，材料的晶格应变可以通过X射线衍射技术测试得出，同时宏观应变可以根据弹性力学得到，因此依据所测得的晶格应变即可推算出宏观应力。

近年来，X射线残余应力检测技术发展迅速，国内外科研仪器研制单位推出多种检测仪器。但是目前对于X射线残余应力检测仪器的部分设计要求没有明确统一标准，对于一些单一的应力测试需求，不同科研仪器单位也会因测试方法和设计要求研制出不同的操作平台和样品夹持装置。此外，由于应力测试样品的种类日益增加，外形尺寸不尽相同，现有的X射线残余应力测试用夹具在针对不同的测试样品时，难以快速的夹持和更换，且操作复杂繁琐，夹持精度也难以精确控制，从而严重影响测试的结果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于X射线残余应力测试的样品夹具，可以精确固定测试样品位置以及快速方便地对样品进行夹持和更换，同时可以准确地对样品的测试位置距离和测试角度进行调节。

实现本发明目的的技术解决方案为：一种用于X射线残余应力测试的样品夹具，包括基座，转轴和样品台；

所述样品台通过两侧的转轴与基座连接，且通过转动转轴实现样品台与水平面夹角的可调；

所述样品台中部设有矩形沉槽，矩形沉槽的一个侧面设有伸缩弹簧，与设有伸缩弹簧的侧面相对的侧面设有螺杆，通过螺杆和伸缩弹簧实现样品的夹持。

进一步的，所述基座为柱环体，基座与转轴连接的两个侧端面为平面，基座的上平面和下底面均为平面，其余侧面为曲面；基座的两个侧端面上设有圆形通孔，转轴通过圆形通孔与基座连接。

进一步的，所述矩形沉槽设有螺杆的一侧设有螺纹孔，螺纹孔和螺杆螺纹配合。

进一步的，所述螺杆和伸缩弹簧用于夹持样品的一端设有侧板，通过侧板实现对样品的夹持。

进一步的，还包括角度指针，角度圆盘，定位销和旋紧螺母；

所述基座与转轴连接的一端的水平侧面的外部设有角度标线，角度标线的外侧通过旋紧螺母设有角度圆盘，角度圆盘和转轴相对固定设置；

所述角度圆盘轴向上均布有多个圆形定位孔，基座上设有与角度圆盘上的圆形定位孔相匹配的圆形定位孔，转动转轴之后，通过定位销插入角度圆盘和基座上的圆形定位孔，实现转轴和基座的定位，即实现了样品台在某一角度的固定。

进一步的，角度调节范围左右均为0-60°。

本发明与现有技术相比，其显著优点在于：

(1)本发明的一种用于X射线残余应力测试的样品夹具，基座是承载能力较好以及受力均匀的柱环体，基座上下底面都是平面，可以方便精确地将夹具固定在X射线检测仪器中；在样品台的沉槽中放置样品，可以精确固定好测试样品的位置，同时也可以方便快速更换不同测试样品，极大提高了样品的测试效率。