[发明专利]一种电池筛选方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电池筛选方法，其特征在于，包括：

基于第一样本电芯在不同测试电压下的Hi-pot阻值与测试压力的变化关系，确定标准测试压力，其中，所述第一样本电芯为合格电芯；

基于第二样本电芯在所述标准测试压力下的Hi-pot阻值与测试电压的变化关系，确定标准测试电压，其中，所述第二样本电芯的隔膜具有预设孔径的针孔；

基于第三样本电芯在所述标准测试压力和所述标准测试电压时的Hi-pot阻值与所述第一样本电芯在所述标准测试压力和所述标准测试电压时的Hi-pot阻值，确定标准分选阻值，其中，所述第三样本电芯掺杂有预设类型的金属颗粒物；

使用所述标准测试压力、所述标准测试电压和所述标准分选阻值对待检电芯进行筛选。

2.根据权利要求1所述的电池筛选方法，其特征在于，所述基于第一样本电芯在不同测试电压下的Hi-pot阻值与测试压力的变化关系，确定标准测试压力，包括：

确定预设数量的测试电压；

在每个所述测试电压下分别使用梯度增加的测试压力检测第一样本电芯的Hi-pot阻值；

确定各所述测试电压下所述Hi-pot阻值稳定时的临界压力；

基于最大所述临界压力和所述电芯的寿命终结膨胀力确定标准测试压力，其中，所述标准测试压力大于最大所述临界压力且小于所述寿命终结膨胀力。

3.根据权利要求1所述的电池筛选方法，其特征在于，所述基于第二样本电芯在所述标准测试压力下的Hi-pot阻值与测试电压的变化关系，确定标准测试电压，包括：

确定预设数量的测试电压；

在每个所述测试电压下分别使用所述标准测试压力检测预设数量的第二样本电芯的Hi-pot阻值；

将全部所述第二样本电芯的Hi-pot阻值均为击穿阻值时对应的测试电压确定为标准测试电压。

4.根据权利要求3所述的电池筛选方法，其特征在于，所述在每个所述测试电压下分别使用所述标准测试压力检测预设数量的第二样本电芯的Hi-pot阻值，包括：

在每个所述测试电压下，分别使用所述标准测试压力检测第一数量的第二样本电芯的Hi-pot阻值、第二数量的第二样本电芯的Hi-pot阻值以及第三数量的第二样本电芯的Hi-pot阻值，其中，所述第一数量的所述第二样本电芯的针孔均位于对应电芯的第一预设位置，所述第二数量的所述第二样本电芯的针孔均位于对应电芯的第二预设位置，所述第三数量的所述第二样本电芯的针孔均位于对应电芯的第三预设位置；

相应地，所述将全部所述第二样本电芯的Hi-pot阻值均为击穿阻值时对应的测试电压确定为标准测试电压，包括：

将全部所述第一数量的所述第二样本电芯的Hi-pot阻值均为击穿阻值、全部所述第二数量的所述第二样本电芯的Hi-pot阻值均为击穿阻值以及全部所述第三数量的所述第二样本电芯的Hi-pot阻值均为击穿阻值时对应的测试电压确定为标准测试电压。

5.根据权利要求1所述的电池筛选方法，其特征在于，所述基于第三样本电芯在所述标准测试压力和所述标准测试电压时的Hi-pot阻值与所述第一样本电芯在所述标准测试压力和所述标准测试电压时的Hi-pot阻值，确定标准分选阻值，包括：

对预设数量的所述第一样本电芯分别施加所述标准测试压力和所述标准测试电压，得到第一Hi-pot电阻集；

对预设数量的所述第三样本电芯分别施加所述标准测试压力和所述标准测试电压，得到第二Hi-pot电阻集；

将所述第一Hi-pot电阻集中的最小值作为分选阻值上限，将所述第二Hi-pot电阻集中的最大值作为分选阻值下限，确定标准分选阻值区间。