[发明专利]高分辨率图像目标检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011455217.3 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112541431B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 杨明浩;黄雷 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G06V20/10 分类号: G06V20/10;G06V20/40;G06T7/10
代理公司: 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 代理人: 郭文浩;尹文会
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 高分辨率 图像 目标 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种高分辨率图像目标检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:

根据待检高分辨率图像的尺寸,确定所述待检高分辨率图像的分块基准比例大小;

确定所述待检高分辨率图像的分块基准比例大小α的公式为:

其中,M表示待检高分辨率图像的宽,N表示待检高分辨率图像的高;

根据所述待检高分辨率图像的尺寸、分块基准比例大小,以及待检目标的最大尺寸,对所述待检高分辨率图像进行分块,得到多个基准块图像;具体包括:

根据所述待检高分辨率图像的尺寸、分块基准比例大小,确定基准块大小:

其中,w表示基准块的宽度,h表示基准块的高度,M表示待检高分辨率图像的宽度,N表示待检高分辨率图像的高度,α表示分块基准比例大小,K表示横向分块个数,且横向分块个数与纵向分块个数相同;

根据所述待检目标的最大尺寸,确定重叠区域的宽度和高度;

确定所述待检高分辨率图像的实际切分数量m×n的公式为:

其中,Ow表示重叠区域的宽度,Oh表示重叠区域的高度,Δw表示设定填充宽度,Δh表示设定填充高度,W表示待检高分辨率图像的宽度,H表示待检高分辨率图像的高度;

根据所述实际切分数量,对所述待检高分辨率图像进行分块,得到多个基准块图像;其中,第i个基准块图像的宽度为wi=i×w、高度为hi=i×h;

针对每一基准块图像,通过检测设备检测所述基准块图像中的目标,确定检测时间;

根据各检测时间及各基准块图像,确定分块效率函数;

根据所述分块效率函数,确定最优分块比例;

根据所述最优分块比例,对所述待检高分辨率图像进行二次分块,得到多个子图像;

通过检测设备检测各子图像中的目标。

2.根据权利要求1所述的高分辨率图像目标检测方法,其特征在于,所述重叠区域的宽度为所述待检目标的最大宽度的2~5倍。

3.根据权利要求1所述的高分辨率图像目标检测方法,其特征在于,所述重叠区域的高度为所述待检目标的最大高度的2~5倍。

4.根据权利要求1所述的高分辨率图像目标检测方法,其特征在于,所述根据各检测时间及各基准块图像,确定分块效率函数,具体包括

对第i个基准块图像进行归一化处理,获得归一化后的对应于i的时间效率ti

其中,τi表示检测设备检测第i个基准块图像中的目标所用时间;

通过二次函数曲线拟合得到归一化后的分块效率函数Y:

其中,a、b、c分别表示二次函数的关键参数。

5.根据权利要求4所述的高分辨率图像目标检测方法,其特征在于,所述根据所述分块效率函数,确定最优分块比例,具体包括:

针对分块效率函数取Yi的最小值εj,对j取整确定最优分块比例(ws,hs);a、b、c分别表示二次函数的关键参数,ti表示归一化后的对应于i的时间效率。

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