[发明专利]辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法有效
申请号: | 202011459774.2 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112595696B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 姚东;高贵龙;尹飞;闫欣;辛丽伟;何凯;汪韬;田进寿 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王杨洋 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐照 条件下 接界 状态 原位 表征 方法 | ||
1.一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)粘接界面取样
参照目标粘接界面辐照失效机理及退化规律,对辐照后的真实构件粘接界面的典型状态部位进行切割取样,利用所取样品制备典型状态下的表证件,将表证件的数量记为n,各件编号为1,2,…n,其中n≥3;
2)标定典型状态
2.1)基于激光诱导瞬态光栅光谱的信号分析
采用激光诱导瞬态光栅照射步骤1)制备的表证件1,利用光谱分析设备获得表证件1的光谱图,对光谱图中的特征信号进行非接触式拾取,将典型状态特征信号数据标记为DI-1,将激光诱导瞬态光栅所用的激光参数标记为PaI;
2.2)定义失效等级
2.2.1)采用微焦点断层扫描设备对表证件1进行粘接界面的扫描及三维重构,按照目标粘接界面辐照失效机理及退化规律,对重构的粘接界面进行状态标记,并定义失效等级为Da-1;
2.2.2)采用步骤2.1)、步骤2.2.1)相同的方法,遍历其余表证件,将典型状态特征信号数据标记为DI-i(i=2,3,…n),对应定义失效等级为Da-i(i=2,3,…n);
2.2.3)对全部失效等级Da-i和典型状态特征信号数据DI-i进行拟合,建立相关性数学模型M;
3)服役现场非接触原位检测
3.1)表征目标的激光诱导瞬态光栅光谱分析
采用步骤2.1)标记的激光参数PaI对激光诱导瞬态光栅进行设置后,对表征目标进行照射,利用光谱分析设备获得表征目标的光谱图,对光谱图中的特征信号进行非接触式拾取,将特征信号数据标记为DTest-1;
3.2)特征信号处理
以特征信号数据DTest-1为输入,利用步骤2.2.3)获得的相关性数学模型M,获得表征目标的失效等级。
2.根据权利要求1所述的辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法,其特征在于:步骤1)中,辐照失效机理为取样过程中引入的唯一失效模式。
3.根据权利要求2所述的辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法,其特征在于:步骤1)中,所述n≥5。
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