[发明专利]一种用于介质电性研究的计算方法、可读介质及设备有效

专利信息
申请号: 202011466914.9 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112487736B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 岳明鑫;张翼高飞;吴雨轩;杨晓冬 申请(专利权)人: 安徽国科骄辉科技有限公司
主分类号: G06F30/28 分类号: G06F30/28;G01R27/26;G06F113/08;G06F119/14
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 周静
地址: 230026 安徽省合肥市高新区黄山*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 介质 研究 计算方法 可读 设备
【权利要求书】:

1.一种用于介质电性研究的计算方法,其特征在于:包括以下步骤:

S100、测量介质中流体相的介电常数,及测量介质骨架的介电常数;

S200、测量样品在不同孔隙度及水饱和度的整体介电常数;

S300、推导骨架和流体的介电常数、含水量与整体介电常数的规律关系式;

S400、利用S300所求的关系式,对S100与S200的数据进行分析,求得介质性质参数;

所述S300具体包括:

首先通过逐级递推单独不规则颗粒在均匀空间中的极化情况,然后通过有效介质理论,把多相介质的每一个颗粒,都看作是存在于全空间的有效介质体中的一个小颗粒;

则宏观来说,全空间尺度下并不会有极化强度和激发极化场,即把所有颗粒的极化强度求和之后,值应该和为0,最终得到:

即为求得的规律,其中为介质每一相的介电常数,为每一相体积百分比,为参数,表示介质形状分布,为介质的混合介电常数。

2.根据权利要求1所述的用于介质电性研究的计算方法 ,其特征在于:所述S100具体包括:

使用开放式同轴探针测量介质中流体相的介电常数;

在固体表面不同位置进行多次测量,得到介质骨架的介电常数。

3.根据权利要求1所述的用于介质电性研究的计算方法 ,其特征在于:所述S100、S200及S300中介电常数换成电导率。

4.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至3中任一项所述计算方法的步骤。

5.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至3中任一项所述计算方法的步骤。

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