[发明专利]一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法

权利要求书

1.一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、搭建超声纵波反射法检测系统；

S2、采用超声纵波反射法检测系统对盆式绝缘子待测位置进行检测，记录超声纵波行程时间；

S3、构建盆式绝缘子待测位置超声纵波行程时间与盆式绝缘子材料均匀性程度的对应关系；构建盆式绝缘子待测位置超声纵波行程时间与盆式绝缘子材料均匀性程度的对应关系：由于所有待检测位置的厚度相同，即超声纵波行程相同，则超声纵波行程时间也相同，如果某个待测位置的超声纵波行程时间与标准超声纵波行程时间T₀相差超过系统精度范围，则说明这两个待测位置内部材料均匀性不一致；

当某个位置检测得到的超声纵波行程时间，与标准超声纵波行程时间T₀之差绝对值的小于等于0.03微秒时表示不大于系统误差，则说明两个位置内部材料分布均匀；当时间差绝对值大于0.03微秒时，即|T-T₀|≤0.03，说明该位置内部材料开始出现不均匀；

S4、判断待测位置处于严重不均匀状态个数，确定盆式绝缘子是否可用于实际工程。

2.根据权利要求1所述的一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，步骤S1中，所述超声纵波反射法检测系统包括超声脉冲发生器、示波器、超声纵波直探头、探头适配线和高阻抗传输线；

超声纵波直探头通过探头适配线与超声脉冲发生器的信号输出端相连，超声脉冲发生器的信号同步端通过高阻抗传输线与示波器相连接，超声纵波反射法检测系统的检测对象为盆式绝缘子。

3.根据权利要求2所述的一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，所述示波器是最大采样频率2GHz、采样宽带500MHz的三通道高性能数字存储示波器，通过高阻抗传输线把示波器输入通道和超声脉冲发生器信号输出端同电位相连，从而在示波器上实时显示发射和接收的超声信号。

4.根据权利要求3所述的一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，所述超声纵波直探头属于圆柱式纵波直探头，采用圆形复合材料压电晶片，探头底面为圆形，探头底面直径(D)设计范围取5-10mm，探头高度(H)设计范围取15-20mm；超声纵波直探头的频率设计不大于2.5MHz。

5.根据权利要求4所述的一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，步骤S2中，所述采用超声纵波反射法检测系统对盆式绝缘子待测位置进行检测，记录超声纵波行程时间，具体如下：

调节超声脉冲发生器，将涂有油基型超声耦合剂的超声纵波直探头放置在参考位置即盆式绝缘子浇注口下方最近的待测位置，记录超声纵波行程参考时间；随机检测n次，n≥50，取平均值得到标准超声纵波行程时间T₀；确定每次测量值误差不过超过±0.03微秒，即系统精度为±0.03微秒；

将探头放置在盆式绝缘子表面下一个待检测位置，记录该检测位置的超声波形，然后移动超声纵波直探头的位置，依次完成对每个待检测位置的检测并记录每个待检测位置的超声纵波行程时间T。

6.根据权利要求5所述的一种超声纵波反射法检测盆式绝缘子均匀性的试验方法，其特征在于，所述超声纵波行程时间指：超声纵波直探头在盆式绝缘子环氧部分一侧发出超声始波F，F垂直入射到环氧部分内部，在环氧部分另一侧的对应位置处反射沿原路程返回再被超声纵波直探头接收，接收波为B；提取超声波形中的始波峰值时刻t_F和接收波峰值时刻t_B，接收波峰值时刻减去始波峰值时刻得出该检测位置的超声纵波行程时间T，即T＝t_B-t_F；T₀为T的特列，计算方法与T一致。