[发明专利]管理用于回流工艺的存储器装置的预编程在审

专利信息
申请号: 202011471218.7 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112992239A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: J-H·申;F·S·库山;T·伊瓦萨基;J·纳亚尔 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 管理 用于 回流 工艺 存储器 装置 预编
【说明书】:

本申请涉及管理用于回流工艺的存储器装置的预编程。确定待存储在存储器装置的存储器单元处的逻辑状态,其中所述逻辑状态待由存储在所述存储器单元处的阈值电压表示。确定与所述逻辑状态相关联的验证参考电压。所述验证参考电压限定与所述逻辑状态相关联的所述阈值电压的目标电压电平。在将热量施加到所述存储器装置之后,使用针对所述存储器单元的所述阈值电压中的预期移位的补偿量来更新所述验证参考电压。在将所述热量施加到所述存储器装置之前,将多组多个编程脉冲施加到所述存储器单元直至符合阈值条件为止。所述阈值条件与所述存储器单元的所述阈值电压相对于经更新验证参考电压的相对量值相关联。

技术领域

本公开的实施例大体上涉及存储器装置,且更具体地说,涉及管理用于回流工艺的存储器装置的预编程。

背景技术

存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说,主机系统可利用存储器子系统将数据存储于存储器装置处并且从存储器装置检索数据。

发明内容

本申请的一方面涉及一种方法,其包括:确定待存储在存储器装置的存储器单元处的逻辑状态,所述逻辑状态待由存储在所述存储器单元处的阈值电压表示;确定与所述逻辑状态相关联的验证参考电压,所述验证参考电压限定与所述逻辑状态相关联的所述阈值电压的目标电压电平;在将热量施加到所述存储器装置之后,使用针对所述存储器单元的所述阈值电压中的预期移位的补偿量来更新所述验证参考电压;以及在将所述热量施加到所述存储器装置之前,将多组多个编程脉冲施加到所述存储器单元直至符合阈值条件为止,其中所述阈值条件与所述存储器单元的所述阈值电压相对于经更新验证参考电压的相对量值相关联。

本申请的另一方面涉及一种系统,其包括:存储器装置;以及处理装置,其与所述存储器装置以操作方式耦合,所述处理装置被配置成执行包括以下各项的操作:确定待存储在所述存储器装置的存储器单元处的逻辑状态,所述逻辑状态待由存储在所述存储器单元处的阈值电压表示;确定与所述逻辑状态相关联的验证参考电压,所述验证参考电压限定与所述逻辑状态相关联的所述阈值电压的目标电压电平;在将热量施加到所述存储器装置之后,使用针对所述存储器单元的所述阈值电压中的预期移位的补偿量来更新所述验证参考电压;以及在将所述热量施加到所述存储器装置之前,将多组多个编程脉冲施加到所述存储器单元直至符合阈值条件为止,其中所述阈值条件与所述存储器单元的所述阈值电压相对于经更新验证参考电压的相对量值相关联。

本申请的另一方面涉及一种方法,其包括:确定待存储在存储器装置的存储器单元处的逻辑状态,所述逻辑状态待由存储在所述存储器单元处的阈值电压表示;确定与所述逻辑状态相关联的验证参考电压,所述验证参考电压限定与所述逻辑状态相关联的所述阈值电压的目标电压电平;在将热量施加到所述存储器装置之后,至少基于与所述热量相关联使用的热分布,确定针对所述存储器单元的所述阈值电压中的预期移位的补偿量;使用所述补偿量更新所述验证参考电压;以及基于经更新验证参考电压确定是否继续将编程脉冲施加到所述存储器单元,其中在将所述热量施加到所述存储器装置之前,将所述编程脉冲施加到所述存储器单元。

本申请的另一方面涉及一种设备,其包括:多个存储器单元;以及处理装置,其被配置成执行包括以下各项的操作:确定待存储在所述多个存储器单元的存储器单元处的逻辑状态,所述逻辑状态待由存储在所述存储器单元处的阈值电压表示;确定与所述逻辑状态相关联的验证参考电压,所述验证参考电压限定与所述逻辑状态相关联的所述阈值电压的目标电压电平;在将热量施加到所述设备之后,使用针对所述存储器单元的所述阈值电压中的预期移位的补偿量来更新所述验证参考电压;以及在将所述热量施加到所述设备之前,将多组多个编程脉冲施加到所述存储器单元直至符合阈值条件为止,其中所述阈值条件与所述存储器单元的所述阈值电压相对于经更新验证参考电压的相对量值相关联。

附图说明

根据下文给出的详细描述和本公开的各种实施例的附图,将更充分地理解本公开。然而,图式不应理解为将本公开限于特定实施例,而是仅用于解释和理解。

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