[发明专利]一种理化试样自动排样的方法有效
申请号: | 202011472371.1 | 申请日: | 2020-12-14 |
公开(公告)号: | CN112613139B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 王少阳;彭富华;谢林杉;王园;聂海平 | 申请(专利权)人: | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G06F30/17 | 分类号: | G06F30/17;G06F30/20 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 彭红艳 |
地址: | 610092 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 理化 试样 自动 方法 | ||
1.一种理化试样自动排样的方法,其特征在于:包括以下步骤:
a.三维实体离散化:将三维实体模型分割、离散,以单元体积或高度代替三维实体高度方向几何信息,实现三维实体图形二维化,建立对应的体积参数表;
b.边界搜索:利用滤镜搜索并记录体积参数表中的边界单元;
c.边界距离计算:建立行列数与体积参数表一致的边界距离表,重复利用滤镜,计算被扫描单元至其周边特定单元的距离;
d.试样摆放:利用体积参数表和边界距离表,结合理化试样尺寸,计算理化试样三维坐标和旋转角度,生成锻件理化试样三维数模;
所述步骤c中边界距离计算具体包括:
c1.构建滤镜,滤镜扫描体积参数表中的任意一个单元X,以单元X为中心,根据距离单元X的不同距离,将单元X周边的单元格分为1~4层,分别给予滤镜层号η,滤镜层号η=1表示离单元X最近;建立行列数与体积参数表一致的边界距离表S,所述边界距离表S用于记录相应单元的边界距离Si,j,其最大值为Smax,初始时Si,j=Smax;
c2.逐行、逐列遍历体积参数表Vi,j,使用滤镜观测体积参数表中任意一个Vi,j≠0的单元X;
c3.遍历滤镜中的所有单元,若其第η层单元中任意一个单元的Vi',j'=0或Si',j'<Smax,则该单元距离边界的单元距离为Si,j=Si',j'+η-1,记录边界距离,并开始扫描下一个体积参数表单元,直至所有单元遍历完成,记录Si,j的最大值Smax;
c4.逐行、逐列遍历边界距离表Si,j,使用滤镜观测Si,j=Smax的单元,重复步骤C3,直至Smax不再变化。
2.根据权利要求1所述的一种理化试样自动排样的方法,其特征在于:所述步骤a中的三维实体离散化具体包括:沿三维实体长度、宽度方向建立二维坐标系x-y,以△a为间距,将三维实体离散为若干个面积为△a2的离散单元;沿x方向为离散单元编号为i,沿y方向离散单元编号为j,将i作为列号,j作为行号,测量相应脚标(i,j)的离散单元的体积vi,j或高度hi,j,并填入相应行列的表格单元中,形成体积参数表,其中
3.根据权利要求2所述的一种理化试样自动排样的方法,其特征在于:测量离散单元的体积包括:构建两层循环程序结构,分别以i、j作循环,通过CAD软件二次开发接口测量坐标为(i,j)的单元体积为vi,j。
4.根据权利要求2所述的一种理化试样自动排样的方法,其特征在于:测量离散单元的高度具体指:在两层循环程序结构上再增加一层循环,沿三维实体的厚度方向进行若干层的切片,逐层累计各单元格高度。
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