[发明专利]一种记录异常信息的方法、装置、存储介质和电子设备

权利要求书

1.一种记录异常信息的方法，其特征在于，包括：

在获取到基本输入输出系统BIOS的启动过程中的异常触发信号的情况下，收集异常信息；

将所述异常信息存储到指定的存储介质中。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述BIOS的启动包括前期初始化PEI阶段、驱动执行环境DXE阶段和系统管理模式SMM阶段，所述在获取到基本输入输出系统BIOS的启动过程中的异常触发信号的情况下，收集异常信息之前，所述方法还包括：

在所述PEI阶段的代码中插入至少一个第一异常处理函数；

在所述DXE阶段的代码中插入至少一个第二异常处理函数；以及，

在所述SMM阶段的代码中插入至少一个第三异常处理函数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在获取到基本输入输出系统BIOS的启动过程中的异常触发信号的情况下，收集异常信息，包括：

在获取到所述异常触发信号的情况下，通过所述至少一个第一异常处理函数、所述至少一个第二异常处理函数或者所述至少一个第三异常处理函数捕获对应阶段的异常信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述异常信息存储到指定的存储介质中，包括：

通过所述至少一个第一异常处理函数、所述至少一个第二异常处理函数或者所述至少一个第三异常处理函数对捕获的对应阶段的异常信息进行格式化处理，得到标准格式化信息；

通过所述至少一个第一异常处理函数、所述至少一个第二异常处理函数或者所述至少一个第三异常处理函数将所述标准格式化信息存储到指定的存储介质中。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述异常信息存储到指定的存储介质中，包括：

将所述异常信息存储到用于远程获取所述异常信息的非易失性存储介质中。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述异常信息存储到指定的存储介质中，包括：

分别将所述异常信息存储到专门用于存储所述异常信息的互补金属氧化物半导体CMOS存储介质和所述非易失性存储介质中。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述异常信息存储到指定的存储介质中，包括：

向指定计算机发送所述异常信息，以便于所述指定计算机将所述异常信息存储到所述指定计算机的存储介质中。

8.一种记录异常信息的装置，其特征在于，包括：

收集模块，用于在获取到基本输入输出系统BIOS的启动过程中的异常触发信号的情况下，收集异常信息；

存储模块，用于将所述异常信息存储到指定的存储介质中。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至7任一所述的记录异常信息的方法。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如权利要求1至7任一所述的记录异常信息的方法。