[发明专利]基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法有效

专利信息
申请号: 202011480760.9 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112507562B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 林聪;任文明;周扬;蒋庆喜;周岩;靳勇;李硕;南雁飞 申请(专利权)人: 中国航空综合技术研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/18;G06F17/16;G06F119/02
代理公司: 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 代理人: 韩燕
地址: 100028 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 二维 阵列 系统 进行 可靠 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:其包括以下步骤:

步骤一,确定待评估系统为二维阵列型系统,然后根据待评估系统确定二维阵列型系统的物理排列方式;

步骤二,对二维阵列型系统中的所有元件进行编号,记为ai,j,i∈{1,2,...,m}表示行序号,j∈{1,2,...,n}表示列序;

步骤三,确定系统的失效准则,即根据待评估系统确定子区域r×s中最大能接受失效元件的总数k,其中,子区域表示任何一个r行、s列个元件构成的区域;

步骤四,确定元件ai,j的工作概率,记为pi,j或pi,j(t);

步骤五,由下式计算子区域中系统失效元件个数未达到的概率,记为表示子区域的左上角起点元件为ax,y,向右扩展(s-1)个元件,向下扩展(r-1)个元件,子区域中系统失效元件个数未达到的概率为:

其中:

其中,当公式中的参数为ω=pi,j时,求得的是一个数值;当公式中的参数为ω=pi,j(t)时,求得的是关于变量t的一个数值,变量t表示时间,m为二维阵列系统的行数,n为二维阵列系统的列数,r为子区域的行数,s为子区域的列数,k为子区域r×s中最大能接受失效元件的总数;

步骤六,计算子区域失效的风险,记为Pxy,子区域失效的风险Pxy为:

步骤七,计算系统可靠度指标值;

(1)平面型二维阵列系统的可靠度由下式进行评估:

(2)桶型二维阵列系统的可靠度由下式进行评估:

可靠度反映的是系统能够正常工作的概率,故其取值范围为[0,1],且越接近1表示系统的可靠性水平越高。

2.根据权利要求1所述的基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:所述步骤一中,二维阵列型系统的物理排列方式,物理排列方式包括平面型或桶型,具体为:

(1)平面型二维阵列系统的确定依据为元件能在平面或曲面内按行/列坐标规则排列;

(2)桶型二维阵列系统的确定依据为元件能在圆柱体表面按行/列坐标规则排列。

3.根据权利要求2所述的基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:所述步骤二中对二维阵列型系统中的所有元件进行编号,记为ai,j,i∈{1,2,...,m}表示行序号,j∈{1,2,...,n}表示列序;具体为:

(1)平面型二维阵列系统元件编号规则:将左上角的元件编号为a1,1,向右依次将列序j增加1,向下依次将行序i增加1,直至标号至am,n

(2)桶型二维阵列系统元件编号规则:任选第一行的一个元件编号为a1,1,向右依次将列序j增加1,向下依次将行序i增加1,直至标号至am,n;由于同型系统元件收尾相接,故编号后,ai,1元件的左侧为ai,n

4.根据权利要求1所述的基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:所述步骤四中确定元件ai,j的工作概率,记为pi,j或pi,j(t);具体为:

(1)若该参数是据统计结果以定值形式给出,则记为pi,j

(2)若该参数用概率分布形式给,则记为其中fi,j(t)为该元件寿命服从的概率密度函数;

(3)若已知某一元件失效,则直接令该元件工作的概率为0,即pi,j=0。

5.根据权利要求4所述的基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:所述步骤四中系统中存在元件异构情况时,通过调整元件的失效率函数来体现元件的异构情况。

6.根据权利要求4所述的基于二维阵列系统进行可靠度评估的方法,其特征在于:所述二维阵列型系统中的元件为电子件,因此用指数分布来描述其寿命随时间t的变化规律;即,其中λi,j表示元件ai,j的失效率,元件能够正常工作的概率由进行计算。

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