[发明专利]接近开关和用于探测待检测的对象的方法

权利要求书

1.一种具有用于探测待检测的对象(1)的振荡电路(16)的接近开关(200)，其特征在于，所述振荡电路(16)具有在0.8MHz至20MHz的范围内的谐振频率。

2.根据权利要求1所述的接近开关(200)，其中所述谐振电路(16)的谐振频率在1MHz至14MHz的范围内。

3.根据权利要求1或2所述的接近开关(200)，其中所述接近开关(200)设计用于探测由碳材料构成的待检测的对象(1)。

4.根据前述权利要求中任一项所述的接近开关(200)，包括至少一个第一发射线圈(S1)、第二发射线圈(S2)和电容器(K，14)，其中所述第一发射线圈(S1)、所述第二发射线圈(S2)和所述电容器(K，14)形成所述谐振电路(16)。

5.根据权利要求4所述的接近开关(200)，其中所述第一发射线圈(S1)和/或所述第二发射线圈(S2)，优选所述第一发射线圈(S1)和所述第二发射线圈(S2)均构成为印刷的发射线圈(S1，S2)。

6.根据权利要求4或5所述的接近开关(200)，其中所述第一发射线圈(S1)和/或所述第二发射线圈(S2)的电感在0.4μH至4μH的范围内；和/或其中所述电容器(K，14)的电容在22pF至2.2nF的范围内。

7.根据前述权利要求中任一项所述的接近开关(200)，还包括用于放大由所述谐振电路(16)接收的接收信号的放大器(7)，其中所述放大器(7)具有至少一个滤波级和至少一个电容元件，所述滤波级和电容元件匹配于所述振荡电路(16)的谐振频率。

8.根据权利要求7所述的接近开关(200)，其中所述放大器设计用于减小对所述谐振电路(16)的激励的相位的外部电容式的影响。

9.一种用于借助于接近开关(200)探测待检测的对象(1)的方法，所述方法包括借助于所述接近开关(200)发射频率在0.8MHz至20MHz的范围内的检测信号。

10.一种用于探测信号的在0.8MHz至20MHz的范围内的频率的用途，所述探测信号用于借助于接近开关(200)探测待检测的对象(1)。