[发明专利]无线模组的功率校准方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种无线模组的功率校准方法及装置。所述方法包括：确定基准模组在屏蔽箱内的辐射功率衰减值，以及无线模组在所述屏蔽箱内的模组信号强度；根据所述辐射功率衰减值以及所述模组信号强度，确定所述无线模组的实际功率；根据所述实际功率以及目标功率，对所述无线模组的发射功率进行校准。本发明实施例提供的无线模组的功率校准方法及装置在天线检测的基础上综合了压接测试点检测的精确性，使得对无线模组的功率校准精确。

技术领域

本发明涉及通信设备生产技术领域，具体涉及一种无线模组的功率校准方法及装置。

背景技术

无线模组对于保证通信设备的正常工作至关重要，其功率的稳定性直接关系者通信设备的性能。因此，对于无线模组的功率校准是无线模组生产过程中的重要环节。

对于无线模组功率的校准，现有技术通常采用射频开关插座进行，但射频开关插座的成本较高，不适宜推广使用。

另外一种常用的校准方式是基于辐射对无线模组的功率进行校准。然而，辐射校准的方法精度较差，容易造成误差。

因此，如何提出一种方法，能够精确地对无线模组的功率进行校准，具有十分重要的意义。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明实施例提供一种无线模组的功率校准方法，包括：

确定基准模组在屏蔽箱内的辐射功率衰减值，以及无线模组在所述屏蔽箱内的模组信号强度；

根据所述辐射功率衰减值以及所述模组信号强度，确定所述无线模组的实际功率；

根据所述实际功率以及目标功率，对所述无线模组的发射功率进行校准；

其中，所述辐射功率衰减值包括对所述基准模组施加压接测试点后的辐射功率衰减值；

所述模组信号强度包括对所述无线模组施加所述压接测试点后的模组信号强度。

本发明实施例提供的无线模组的功率校准方法，通过获取对基准模组施加压接测试点后的辐射功率衰减值，以及对无线模组施加压接测试点后的模组信号强度，在天线检测的基础上综合了压接测试点检测的精确性，使得对无线模组的功率校准精确，具有广泛的应用前景。

在一个实施例中，所述确定基准模组在屏蔽箱内的辐射功率衰减值包括：

获取天线测得的所述基准模组在所述屏蔽箱内的第一信号强度，并根据所述第一信号强度以及所述基准模组的发射功率，确定所述基准模组的第一辐射功率衰减值；

获取对所述基准模组施加压接测试点后，所述天线测得的所述基准模组在所述屏蔽箱内的第二信号强度，并根据所述第二信号强度以及所述发射功率，确定所述基准模组的第二辐射功率衰减值；

获取对所述基准模组施加所述压接测试点后，压接测试点通路的第三信号强度，并根据所述第三信号强度以及所述发射功率，确定压接测试点通路损耗。

本发明实施例提供的无线模组的功率校准方法，通过在不改变测试环境(屏蔽箱内)的情况下，通过测量以获取到基准模组在不施加压接测试点时的第一辐射功率衰减值，施加压接测试点时的第二辐射功率衰减值以及对应的压接测试点通路损耗，可以避免因测试环境影响带来的误差，保证了获得的各功率衰减值的准确性。

在一个实施例中，所述确定无线模组在所述屏蔽箱内的模组信号强度包括：

获取所述天线测得的所述无线模组在所述屏蔽箱内的第一模组信号强度；

获取对所述无线模组施加所述压接测试点后，所述天线测得的所述无线模组在所述屏蔽箱内的第二模组信号强度；

获取对所述无线模组施加所述压接测试点后，所述压接测试点通路的第三模组信号强度。