[发明专利]一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法在审
申请号: | 202011485662.4 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112634216A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 王倩;王晔琳;李俊;何复兴;朱龙辉;李宁;李贺 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 刘娜 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 深度 学习 模型 绝缘子 自爆 检测 方法 | ||
1.一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括采集绝缘子图像,将绝缘子图像转化为单通道标注图,构建U-Net模型和CNN模型,用部分单通道标注图训练U-Net模型和CNN模型,通过训练的U-Net模型提高其余部分单通道标注图的像素精度,获得最优像素的掩膜图像,将所述掩膜图像输入训练后的CNN模型中,若CNN模型输出数值0.5,则认为所述绝缘子没有发生自爆;否则,则认为所述绝缘子发生了自爆。
2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,采集同一个绝缘子的多张绝缘子图像,对采集的绝缘子图像像素进行统一化调整;
步骤2,采用图像标注工具对绝缘子图像进行标注和格式转化,得到单通道标注图;
步骤3,构建U-Net模型,使特征图在进行卷积操作前后图像的像素一致;采用步骤2获得的部分单通道标注图训练U-Net模型,以损失最小的训练参数作为U-Net模型的最终参数,然后通过训练后的U-Net模型提高其余部分单通道标注图的像素精度,获得最优像素的掩膜图像;
步骤4,构建卷积神经网络CNN模型,采用训练U-Net模型的单通道标注图来训练卷积神经网络CNN模型,以损失最小的训练参数作为CNN模型的最终参数,即获得训练后的CNN模型;
步骤5,将步骤3获得的掩膜图像输入训练后的CNN模型中,若CNN模型输出的数值0.5,则认为所述绝缘子图像完整,即绝缘子没有发生自爆;否则,则认为所述绝缘子图像有缺失,即绝缘子发生了自爆。
3.根据权利要求2所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤1中,利用无人机、钢丝滚动机器人或攀爬机器人采集绝缘子图像。
4.根据权利要求2所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤2的具体操作过程如下:
步骤2.1,采用图像标注工具对绝缘子图像进行标注,将绝缘件标注为disc,将连接件标注为ca;
步骤2.2,将标注好的图像保存为Json格式,得到三通道标注图;
步骤2.3,利用MATLAB将三通道标注图进行图像格式转化,得到单通道标注图。
5.根据权利要求2或4所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3具体包括以下步骤:
步骤3.1,构建U-Net模型,在每层卷积操作前,对特征图进行零填充来改进模型,使特征图在进行卷积操作前后图像的像素一致;
步骤3.2,将步骤2得到的单通道标注图分为三部分,分别是训练集,验证集和测试集;
步骤3.3,采用优化器训练步骤3.1获得的U-Net模型,将训练集输入U-Net模型中进行训练,每训练完一趟,用验证集进行验证,若验证集上损失最小的训练参数满足MIoU函数,则以验证集上损失最小的训练参数作为U-Net模型的最终参数,即完成对U-Net模型的训练,MIoU函数如下:
式中,i表示真实值,j表示预测值,K+1是类别个数,包含空类,pij表示本属于类别i但被预测为类别j的像素数量,pii表示类别i真正的像素数量,pji表示本属于类别j但被预测为类别i的像素数量;
步骤3.4,采用训练后的U-Net模型提高测试集的像素精度,获得最优像素精度的掩膜图像。
6.根据权利要求5所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3.3中,用验证集进行验证时,使用交叉熵评估训练结果,计算损失采用的损失函数如下:
式中,i—验证集样本,即验证集中的单通道标注图;c—从1到M的类别序列,M—验证集类别的总数量,pic—样本i属于类别c的预测概率,yic—指示变量,若样本i属于类别c,yic为1,否则为0;N—验证集样本总数量。
7.根据权利要求6所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3.4中,最优像素精度的计算公式如下:
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