[发明专利]一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法在审

专利信息
申请号: 202011485662.4 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112634216A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 王倩;王晔琳;李俊;何复兴;朱龙辉;李宁;李贺 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 刘娜
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 模型 绝缘子 自爆 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括采集绝缘子图像,将绝缘子图像转化为单通道标注图,构建U-Net模型和CNN模型,用部分单通道标注图训练U-Net模型和CNN模型,通过训练的U-Net模型提高其余部分单通道标注图的像素精度,获得最优像素的掩膜图像,将所述掩膜图像输入训练后的CNN模型中,若CNN模型输出数值0.5,则认为所述绝缘子没有发生自爆;否则,则认为所述绝缘子发生了自爆。

2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,采集同一个绝缘子的多张绝缘子图像,对采集的绝缘子图像像素进行统一化调整;

步骤2,采用图像标注工具对绝缘子图像进行标注和格式转化,得到单通道标注图;

步骤3,构建U-Net模型,使特征图在进行卷积操作前后图像的像素一致;采用步骤2获得的部分单通道标注图训练U-Net模型,以损失最小的训练参数作为U-Net模型的最终参数,然后通过训练后的U-Net模型提高其余部分单通道标注图的像素精度,获得最优像素的掩膜图像;

步骤4,构建卷积神经网络CNN模型,采用训练U-Net模型的单通道标注图来训练卷积神经网络CNN模型,以损失最小的训练参数作为CNN模型的最终参数,即获得训练后的CNN模型;

步骤5,将步骤3获得的掩膜图像输入训练后的CNN模型中,若CNN模型输出的数值0.5,则认为所述绝缘子图像完整,即绝缘子没有发生自爆;否则,则认为所述绝缘子图像有缺失,即绝缘子发生了自爆。

3.根据权利要求2所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤1中,利用无人机、钢丝滚动机器人或攀爬机器人采集绝缘子图像。

4.根据权利要求2所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤2的具体操作过程如下:

步骤2.1,采用图像标注工具对绝缘子图像进行标注,将绝缘件标注为disc,将连接件标注为ca;

步骤2.2,将标注好的图像保存为Json格式,得到三通道标注图;

步骤2.3,利用MATLAB将三通道标注图进行图像格式转化,得到单通道标注图。

5.根据权利要求2或4所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3具体包括以下步骤:

步骤3.1,构建U-Net模型,在每层卷积操作前,对特征图进行零填充来改进模型,使特征图在进行卷积操作前后图像的像素一致;

步骤3.2,将步骤2得到的单通道标注图分为三部分,分别是训练集,验证集和测试集;

步骤3.3,采用优化器训练步骤3.1获得的U-Net模型,将训练集输入U-Net模型中进行训练,每训练完一趟,用验证集进行验证,若验证集上损失最小的训练参数满足MIoU函数,则以验证集上损失最小的训练参数作为U-Net模型的最终参数,即完成对U-Net模型的训练,MIoU函数如下:

式中,i表示真实值,j表示预测值,K+1是类别个数,包含空类,pij表示本属于类别i但被预测为类别j的像素数量,pii表示类别i真正的像素数量,pji表示本属于类别j但被预测为类别i的像素数量;

步骤3.4,采用训练后的U-Net模型提高测试集的像素精度,获得最优像素精度的掩膜图像。

6.根据权利要求5所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3.3中,用验证集进行验证时,使用交叉熵评估训练结果,计算损失采用的损失函数如下:

式中,i—验证集样本,即验证集中的单通道标注图;c—从1到M的类别序列,M—验证集类别的总数量,pic—样本i属于类别c的预测概率,yic—指示变量,若样本i属于类别c,yic为1,否则为0;N—验证集样本总数量。

7.根据权利要求6所述的一种基于深度学习模型的绝缘子自爆检测方法,其特征在于,所述步骤3.4中,最优像素精度的计算公式如下:

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