[发明专利]一种基于反射光谱数据的土壤有机碳密度估算方法在审
申请号: | 202011487737.2 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112782096A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 郑光辉;焦彩霞;徐明星 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学;浙江省地质调查院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 周科技 |
地址: | 210032 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 反射 光谱 数据 土壤 有机 密度 估算 方法 | ||
1.一种基于反射光谱数据的土壤有机碳密度估算方法,其特征在于,步骤如下:
步骤A:土壤样品采集和预处理,获取土壤样品的物理化学属性,计算每个土样的单位厘米厚度土壤有机碳密度SOCDicm;
步骤B:测量预处理后的土壤样品反射率,得到350-2500nm波段的反射光谱数据;
步骤C:反射光谱数据预处理,包括断点校正,以及对光谱曲线进行平滑处理;
步骤D:构建单位厘米厚度土壤有机碳密度SOCDicm的反射光谱估算模型;
步骤E:基于步骤D,建立土壤有机碳密度与反射光谱数据的函数关系。
2.根据权利要求1所述的基于反射光谱数据的土壤有机碳密度估算方法,其特征在于,所述步骤A获取的土壤样品的物理化学属性包括有机碳含量、大于2mm石砾所占的体积百分比、土壤容重、土层厚度;单位厘米厚度土壤有机碳密度是单位面积1cm厚度的土壤有机碳储量,表达式为式一:SOCDicm=SOCi×BDi×H×(1-Gi)/10,式中SOCi为第i层的土壤有机碳含量,BDi为第i层的土壤容重,H为土层厚度1cm,Gi为第i层的大于2mm的石砾所占的体积百分比。
3.根据权利要求1所述的基于反射光谱数据的土壤有机碳密度估算方法,其特征在于,所述步骤B采集土壤光谱前首先去除暗电流,然后利用漫反射标准参照板获取相对反射率;光谱采集过程中,光源与垂直方向成一定角度,与土壤样品距离为a;探头垂直于土壤样品进行光谱采集,与土壤样品距离为b;每个土壤样品采集n条光谱曲线,算术平均后得到该土壤样品的350-2500nm波段反射光谱数据。
4.根据权利要求1所述的基于反射光谱数据的土壤有机碳密度估算方法,其特征在于,根据计算得到的单位厘米厚度土壤有机碳密度SOCDicm和经过预处理的反射光谱数据Xi,构建单位厘米厚度土壤有机碳密度SOCDicm的反射光谱估算模型,表达式为式二:SOCDicm=f(Xi);
土层i的有机碳密度SOCDi表示为土壤反射光谱数据的函数关系,表达式为式三:SOCDi=SOCDicm×Hi=f(Xi)×Hi,式中Hi为第i层的土层厚度;
设某一土体的剖面由m个土层组成,该剖面的有机碳密度SOCD表示为土壤反射光谱数据的函数关系,表达式为式四:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京信息工程大学;浙江省地质调查院,未经南京信息工程大学;浙江省地质调查院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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