[发明专利]包括用于估计经受高海拔飞行条件的电子存储器的故障的设备的电子系统

说明书

本发明涉及一种用于航空应用的电子系统(1)，包括至少一个电子存储器(2)，该电子存储器包括第一复数个(T)字，以及用于检测所述字中的错误的错误检测系统(4)。根据本发明的电子系统包括错误计数设备，该错误计数设备包括：‑包括第二复数个(NBR)位的寄存器(6)，位的地址与至少一个字相关联；‑用于在所述错误检测系统标记所述字的更改时对与所述字相关联的位进行索引的模块，所述位的索引在给定时间段内是唯一的，而不管由错误检测系统在该给定时间段内检测到所述字的更改的次数；‑用于在给定时间段结束时重置(5)所述寄存器的模块。

技术领域

本发明属于飞行器上嵌入的电子存储器的技术领域。当飞行器在高海拔(通常为10000米及以上)移动时，电子设备(尤其是电子存储器)会暴露于高能粒子(通常为中子)，这会影响主要电子组件的运行。当效果足以引起组件状态变化时，将其称为“单效果翻转”或“SEU”，或“多效果翻转”或“MEU”。因此，电子的“0”可以转换为电子的“1”，反之亦然。

更具体地，本发明的技术领域是“RAM”的易失性存储器和“ROM”的非易失性存储器的领域，RAM是“随机存取存储器”及其派生词的缩写，ROM是“只读存储器”的缩写。

背景技术

应当理解，就航空电子设备对于确保飞行器及其乘客的安全至关重要而言，这种存储器更改的问题极为敏感。因此，此类设备受制于极其严格的认证要求。

此外，电子技术的趋势允许组件的日益显著的微型化，因此使它们对这种干扰更加敏感。

因此，重要的是要知道在实际使用条件下，给定时间段内受SEU或MEU影响的存储器的单元或字的数量。该比率称为“FIT率”，代表“时间故障率(Failure In Time rate)”或每单位时间的故障率。当存储器位于计算机中以及在飞机上的实际使用条件下时，知道此比率很重要。此表征与制造商在实验室条件下进行的表征不同。

为了确定该比率，有两种可能的方法。在第一种方法中，将彻底扫描整个存储器以检测变化并对其进行计数。第一种方法给出了准确的结果，但是由于检测是侵入性的，因此对性能的影响很大。专用于检测的访问被添加到操作访问中，从而减小了存储器的有用带宽，或者需要更复杂的电子设备，例如双端口存储器，该解决方案仅对于小尺寸的存储器才是可能的。该缺点通常是禁止的。

在第二种方法中，仅在存储器的操作读取期间检测和计数更改。该第二种方法比第一种方法容易实施，但存在两个主要缺点：

-在观察期间内不能保证对存储器进行彻底扫描；

-在观察期间内，当操作访问多次读取同一存储器单元时，存在多次计数相同更改的风险，这是非常普遍的情况，因此会歪曲测量结果。

为了纠正第二个缺陷，一些集成电路，例如“FPGA”电路，FPGA是“现场可编程门阵列”的缩写，或者是“ASIC”电路，ASIC是“专用集成电路”的缩写，当检测到更改时校正存储器的内容，从而保证只对它计数一次。但是，这些存储器校正设备非常复杂，并且会影响性能，因为校正设备会在重写经校正的数据所需的时间内阻止读出流。

因此，现有的解决方案要么在执行时间上过于密集，要么是部分错误的。

发明内容

本发明的一个目的是在不改变读取时间并且不对被监视的电子系统进行实质性修改的情况下补救当在观察期间内操作访问多次读取同一存储器单元时对一个且同一个更改进行多次计数的问题。

更具体地，根据本发明的用于航空应用的电子系统包括：至少一个电子存储器，其包括第一复数个字；以及用于检测所述字的错误的系统，其特征在于，所述电子系统包括错误计数设备，所述错误计数设备包括：

-包括第二复数个位的寄存器，位的地址与至少一个字相关联；