[发明专利]一种基于序数回归的乳腺钼靶病灶良恶性分析方法

权利要求书

1.一种乳腺钼靶影像分析方法，包括建立钼靶良恶性分析算法框架以及将钼靶良恶性分析算法得到的结果映射到BI-RADS等级，其特征在于，所述钼靶良恶性分析算法框架由特征提取及序数回归操作构成。

2.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述特征提取采用18层残差网络。

3.如权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述18层残差网络由4个残差单元构成。

4.如权利要求3所述的分析方法，其特征在于，所述残差单元由卷积层、归一化操作以及激活函数构成。

5.如权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述特征提取过程中采用恒等映射。

6.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述序列回归采用多个二分类结构进行处理。

7.如权利要求6所述的分析方法，其特征在于，所述二分类问题采用的损失函数为交叉熵损失函数。

8.如权利要求1-7任一权利权利要求所述的分析方法，其特征在于，所述将钼靶良恶性分析算法得到的结果映射到BI-RADS等级采用加权平均对多个二分类模型得到的结果进行加权。

9.一种基于乳腺钼靶影像分析的装置，其特征在于，包括：至少一个存储器，用于存储程序；至少一个处理器，用于加载所述程序以执行如权利要求1-8任一项所述的分析方法。

10.一种存储介质，其中存储有处理器可执行的指令，其特征在于，所述处理器可执行的指令在由处理器执行时用于实现如权利要求1-8任一项所述的分析方法。