[发明专利]一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置

权利要求书

1.一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：包括轮廓机构、重熔层表面平整度测量机构、重熔层轮廓成像机构和待测工件(14)；待测工件(14)放置于轮廓机构上，重熔层表面平整度测量机构装配于轮廓机构上，与待测工件(14)位置相对布设，重熔层轮廓成像机构位于轮廓机构端部，与待测工件(14)位置相对应布设。

2.根据权利要求1所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述轮廓机构由底座(1)、第一滑块(2)、纵向水平导轨(3)、竖直支架(4)、第二滑块(5)和上横向水平导轨(6)组成；纵向水平导轨(3)对称固定在底座(1)上，纵向水平导轨(3)上滑动连接有第一滑块(2)，第一滑块(2)上固定有对称的竖直支架(4)；两竖直支架(4)之间顶部固设有上横向水平导轨(6)，上横向水平导轨(6)上安装有第二滑块(5)，第二滑块(5)底部安装有重熔层表面平整度测量机构。

3.根据权利要求2所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述重熔层表面平整度测量机构包括上液压杆(7)、下液压杆(8)和传感器(9)；下液压杆(8)一端套接于上液压杆(7)内，另一端连接传感器(9)。

4.根据权利要求3所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述上液压杆(7)与下液压杆(8)之间接触面涂有润滑剂；传感器(9)通过液压装置驱动下液压杆(8)上下运动，用于传感器(9)与待测工件(14)表面接触。

5.根据权利要求4所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述传感器(9)底部转配有敏感元件，该敏感元件用于传输待测工件(14)表面发出的信号。

6.根据权利要求1所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述重熔层轮廓成像机构由下横向水平导轨(10)、第三滑块(11)、相机底座(12)和成像相机(13)组成，下横向水平导轨(10)固设于底座(1)端部，下横向水平导轨(10)上滑动连接有第三滑块(11)，第三滑块(11)上固设有相机底座(12)，相机底座(12)上固设有成像相机(13)。

7.根据权利要求6所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述第三滑块(11)与底座(12)之间留有间距。

8.根据权利要求6所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述成像相机(13)和传感器(9)所产生的信号和图像最终由电脑终端接收和分析。

9.根据权利要求6所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述第一滑块(2)与纵向水平导轨(3)、第二滑块(5)与上横向水平导轨(6)、第三滑块(11)与下横向水平导轨(10)之间的通过步进电机驱动。

10.根据权利要求6所述的一种检测高熵合金重熔层表面平整度及重熔层轮廓成像的装置，其特征在于：所述纵向水平导轨(3)、上横向水平导轨(6)和下横向水平导轨(10)均为工字型导轨。