[发明专利]一种电测检验装置

说明书

本发明提供了一种电测检验装置，包括：支撑架，设置在使用地；并根据需要与使用地进行固定；驱动架，设置在支撑架上；第一测试装置，穿设在驱动架上；第二测试装置，设置在驱动架的一侧；配电部，设置在支撑架上，并分别与第一测试装置和第二测试装置连接；本发明提出的电测检验装置无需人工的方式连接端子，降低了测试的步骤，进而能够缩短测试时间，提高了整体的工作效率。

技术领域

本发明涉及电子产品检测技术领域，尤其是涉及一种电测检验装置。

背景技术

现有技术中，接线端子需要进行相应的测试，以保证在后续的使用过程不会出现损坏造成故障发生；

而在端子导通测试过程中，一般是通过人工或者使用单一的工具对端子两端进行连接后在进行导通设置，这样需要多步骤进行连接后再进行测试；而使得测试过程中操作周期增加，而在批量测试时，使得整体的测试周期增加，影响整体的工作效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电测检验装置，该一种电测检验装置能够将在端子置入后在进行固定的同时进行检测，降低的测试的操作步骤提高了整体的效率；

本发明提供一种电测检验装置，包括：

支撑架，设置在使用地；并根据需要与使用地进行固定；

驱动架，设置在支撑架上；

第一测试装置，穿设在驱动架上；

第二测试装置，设置在驱动架的一侧；

配电部，设置在支撑架上，并分别与第一测试装置和第二测试装置连接。

作为进一步的技术方案，驱动架包括：

框架，设置在支撑架上，且第一测试装置穿设在框架上；

定位板，设置在框架一侧，且第二测试装置设置在第二测试装置上。

作为进一步的技术方案，第一测试装置包括：

第一驱动装置，设置在支撑架上；

第一滑块，设置在驱动架上，并与第一驱动装置连接；

第一针组，穿设在第一滑块上，且与第一驱动装置连接。

作为进一步的技术方案，驱动架上设置有第一滑道，第一滑块的两端设置在第一滑道内。

作为进一步的技术方案，第一针组包括：

第一针座，与第一滑块连接；

若干第一探针，设置在第一针座上。

作为进一步的技术方案，第二测试装置包括：

第二驱动装置，设置在驱动架上；

滑块组，与第二驱动装置连接；

第二针组，与滑块组连接。

作为进一步的技术方案，滑块组包括：

下压滑座，与第二驱动装置连接；

第二滑块，与下压滑座连接。

作为进一步的技术方案，还包括：

连接座，设置在第二驱动装置与下压滑座之间。

作为进一步的技术方案，下压滑座上设置有第二滑道，并通过第二滑道与连接座连接。

作为进一步的技术方案，第二针组包括：

第二针座，与滑块组连接；

若干第二探针，设置在第二针座上。